专利名称：一种晶圆级测试装置及方法专利类型：发明专利发明人：顾培东,胡依光申请号：CN201611238602.6申请日：20161228公开号：CN106443419A公开日：20170222
摘要：本发明公开了一种晶圆级测试装置及方法，该测试装置包括：测试盖、测试座以及测试板，所述测试盖用于将WLCSP测试芯片压入所述测试座，与所述测试座内部的测试探针接触，所述测试座与所述测试板接触，以通过所述测试探针传输所述测试板中输出的信号到WLCSP测试芯片，通过本发明，可以在测试座上设计多个Site 进行测试，减少了测试装置的空间，增加了产能产出。
申请人：上海捷策创电子科技有限公司
地址：201203 上海市浦东新区龙东大道3000号5号楼302室-5325
国籍：CN
代理机构：上海国智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：潘建玲
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