专利名称：一种四探针薄膜电阻测试装置专利类型：实用新型专利发明人：陈清明,张亚林,张辉申请号：CN201720223626.8申请日：20170309公开号：CN206876768U公开日：20180112
摘要：本实用新型公开一种四探针薄膜电阻测试装置，包括绝缘块、钢丝、上板、下板、螺栓、铜管、底板、端板、压块，铜管一端连接测试用的电压表和电流表设备，另一端连有底板，底板上设有绝缘块、下板，下板上设有上板，四根钢丝从铜管内穿出来后再穿过绝缘块，钢丝再从上板底部穿过，钢丝在上板穿出端被压块压住固定后穿出上板，四根钢丝穿出上板的部分垂直于上板向下板的方向弯折，上板和下板通过螺栓连接，底板的另一端设有端板；本实用新型操作简单、精度准度高，极大的保证了实验重复性以及被测薄膜的光洁度和完整性。
申请人：昆明理工大学
地址：650093 云南省昆明市五华区学府路253号
国籍：CN
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