1．适用范围
本工艺规程适用于厚度为2mm~400mm的碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍合金制承压设备，以及厚度为2mm~80mm的铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金制承压设备的熔化焊对接接头的X射线检测技术和质量分级。
本工艺规程适用壁厚T≥2mm的碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍合金、铜及铜合金制承压设备管子及压力管道的熔化焊对接接头X射线检测技术和质量分级。 2．引用标准
JB/T4730-2005《承压设备无损检测》 3．检测人员
3.1 检测人员必须经过技术培训，并按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》取得与其
工作相适应的资格证书。上岗前还应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证书。 3.2 射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于（小数记录值为）。
从事评片的人员应每年检查一次视力。 4．射线防护
射线对人体有不良影响，应遵守公司有关检测工作安全管理制度。 在现场工作人员随身佩带卫生防护站发的个人剂量片、个人报警器。 拍片现场划定“射线放射区”并放好警戒标记。
确认工作人员均已完成各自工作并离开辐射区，方可开启射线发生器进行透照。 每次透照完成后，均应用报警器确认射线装置是否停止辐射后，方可进入辐射现场。 现场作业完成后对仪器进行清点、核对无误后清理现场，撤除警戒标志方可撤离现场。 5．设备、器材和材料 5.1 射线源和能量的选择
透照不同厚度的焊缝时，应选择不同能量的X射线装置。X射线机允许使用的最高管电压应符合标准的规定要求。 5.2 胶片和增感屏
5.2.1 胶片：在满足检测灵敏度要求的情况下，A级和AB级X射线检测选用T3类或更高类别的胶
片，B级X射线检测选用T2类或更高类别的胶片；对Rm540 MPa的高强度材料对接焊接接头X射线检测，应选用T2类或更高类别的胶片。
5.2.2 增感屏：采用金属增感屏或不用增感屏。金属增感屏的选用应符合标准的规定要求。
曝光电压 ≤100Kv ＞100~150Kv ＞150~250Kv ＞250~500Kv
5.2.3 胶片和增感屏在透照过程中应始终紧密接触。 5.3 像质计
5.3.1像质计的选用：采用线型金属丝像质计，其型号和规格应符合下表的规定要求：
像质计灵敏度值——单壁透照、像质计置于源侧
应识别丝号 （丝径，mm） 18（） 17（） 16（） 15（） 14（） 13（） 12（） 11（） 10（） 9（） 8（） 7（） 6（） 5（） 4（） 3（） 2（）
像质计灵敏度值——双壁双影透照、像质计置于源侧
A级 / / ≤ ＞~ ＞~ ＞~7 ＞7~10 ＞10~15 ＞15~25 ＞25~32 ＞32~40 ＞40~55 ＞55~85 ＞85~150 ＞150~250 ＞250~350 ＞350 公称厚度（T）范围，mm AB级 / ≤ ＞~ ＞~ ＞~7 ＞7~10 ＞10~15 ＞15~25 ＞25~32 ＞32~40 ＞40~55 ＞55~85 ＞85~150 ＞150~250 ＞250~350 ＞350 / B级 ≤ ＞~ ＞4~6 ＞6~8 ＞8~12 ＞12~20 ＞20~30 ＞30~35 ＞35~45 ＞45~65 ＞65~120 ＞120~200 ＞200~350 ＞350 / / / 增感屏种类 铅 铅 铅 铅 前屏厚度(mm) 不用或≤ ≤ ~ ~ 后屏厚度(mm) ≤ ≤ ~ ~ 应识别丝号 （丝径，mm） 18（） 17（） 16（） 15（） 14（） 13（） 12（） 11（） 10（） 9（） 8（） 7（）
A级 / / ≤ ＞~ ＞~ ＞~7 ＞7~11 ＞11~15 ＞15~22 ＞22~32 ＞32~44 ＞44~54 透照厚度（W）范围，mm AB级 / ≤ ＞~ ＞~ ＞~7 ＞7~11 ＞11~15 ＞15~22 ＞22~32 ＞32~44 ＞44~54 / B级 ≤ ＞~ ＞4~6 ＞6~9 ＞9~15 ＞15~22 ＞22~31 ＞31~40 ＞40~48 ＞48~56 / / 像质计灵敏度值——双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧
应识别丝号 （丝径，mm） 18（） 17（） 16（） 15（） 14（） 13（） 12（） 11（） 10（） 9（） 8（） 7（） 6（） 5（） 4（） 3（） A级 / / ≤ ＞~ ＞~ ＞~11 ＞11~17 ＞17~26 ＞26~39 ＞39~51 ＞51~64 ＞64~85 ＞85~125 ＞125~225 ＞225~375 ＞375 透照厚度（W）范围，mm AB级 / ≤ ＞~ ＞~ ＞~11 ＞11~17 ＞17~26 ＞26~39 ＞39~51 ＞51~64 ＞64~85 ＞85~125 ＞125~225 ＞225~375 ＞375 / B级 ≤ ＞~ ＞4~6 ＞6~12 ＞12~18 ＞18~30 ＞30~42 ＞42~55 ＞55~70 ＞70~100 ＞100~180 ＞180~300 ＞300 / / / 5.3.2像质计的放置：像质计一般应放在射线源一侧的工作表面上，中心钢丝处于一次透照长度的1/4位置，钢丝横跨且垂直于焊缝，细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多个焊接接头时，像质计应放在透照区最边缘的焊缝处。
5.3.3单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照
规定像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。
5.3.4单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧。 5.3.5单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试验。
5.3.6当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置“F”作为标记，“F”标记的影像应
该和像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中说明。
5.3.7原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时，使用的像质计
允许减少，但要符合以下要求：
1）采用中心透照时，至少在圆周上等间隔地放3个像质计。
2）球罐对接焊接接头采用源侧置于球心的全景曝光时，至少在北极区、赤道区、南极区
附近的焊缝上纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北极的极板拼缝上各放置1个像质计。
3）一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置1个像质计。
5.3.8如数根管接头在一张底片上同时显示时，应至少放置一个像质计，如果只用一个时，则必
须放在最边缘的那根钢管上。
5.3.9 小径管可选用通用线型像质计或专用像质计，金属丝应应横跨焊缝放置。
5.3.10透照厚度的确定：射线透照方向上的材料的公称厚度。多层透照时，透照厚度为通过的各层材料的公称厚度之和。 B标记
背部散射线及无用射线应采用常规方法屏蔽。为验证背部散射线的影响，在每个暗盒背向工件侧贴一个“B”铅字标记（高13mm厚度1.6mm）。若在底片的黑色背影上出现B的较淡影像，就说明背散射线防护不良，应予重照。但若较淡背影上出现较黑的影像，则不作为底片质量判废依据。
识别系统
识别系统由定位标记和识别标记构成。 5.5.1 定位标记
焊缝透照定位标记包括搭接标记和中心标记。局部检测时搭接标记称为有效区段标记。
5.5.2 识别标记
识别标记包括产品编号、焊缝编号、底片编号和透照日期。返修部分还应有返修标记R1，R2……（其数码表示返修次数）
5.5.3 标记位置
5.5.3.1识别系统编号至少距焊缝边缘5mm。
5.5.3.2搭接标记除中心全景曝光外，一般放于射线源侧的工件表面上，但对于曲面工件环缝，
且焦距大于曲率半径时，必须放于胶片侧。
5.5.3.3透照封头拼缝（余高磨平）时应在焊缝两侧放置定位标记，以利于焊缝定位。 观片灯和评片室 5.6.1观片灯
观片灯的主要性能应符合相关的规定，且观片窗口的漫射光亮度可调，并备有遮光板，对不需观察或透光量过强部分屏蔽。 5.6.2评片室
评片应在评片室进行。评片室的光线应暗淡，但不全暗，周围环境亮度应大致与底片上需要观察部位透过光的亮度相当。室内照明光线不得在观察的底片上产生反射。 黑度计和比较黑度片
采用数字式黑度计和仪器自带的黑度片，可测的最大黑度应不小于，黑度计误差小于等于。 显影剂
手工处理用的显影剂配方、显影时间和温度等应符合胶片厂使用说明书的要求。 6 . 受检部位的表面准备
同一条焊缝的余高在允许范围内应均匀，以保证底片黑度处于规定范围内。
距焊缝中心各40mm范围内的焊疤、飞溅、成形粗糙及表面缺陷等应修磨，以不掩盖或干扰缺陷
影像的显示为度。
焊缝及热影响区的表面质量（包括余高高度）应经检查员检查合格。 受检表面应经射线探伤人员认可。 7. 检测技术
射线探伤人员按工艺卡及受检件情况使用设备、器件和材料进行检测。 几何条件
7.1.1. L2与L1/d的关系应满足标准要求，或按下式计算：
A级：L1/d≥7.5 L2AB级：L1/d≥10 L2B级：L1/d≥15 L2
2/3
2/3
2/3
式中：L1－源至被检部位工件表面的距离（或称透照距离）。
d－焦点尺寸（方焦点取边长，长焦点取长短边之和的1/2）。 L2－被检部位工件表面至胶片的距离。
7.1.2分段曝光时，每次曝光所检测的焊缝长度称一次透照长度L3。一次透照长度除满足几何不
清晰度的要求外，还应满足透照厚度比K值的要求：
射线检测技术级别 纵向焊接接头 环向焊接接头 A级、AB级 K≤ K≤ B级 K≤ K≤ 对100mm＜D≤400mm的环向焊接接头（包括曲率相同的曲面焊接接头），A级、AB级允许采用K≤。 透照技术 按射线源，工件和胶片三者间的相互关系，透照方式可采用单壁透照的纵缝透照法，环缝周向中心曝光法和环缝外透法以及双壁透照的双壁单影法双壁双影法。
只要实际可行应采用单壁透照技术，当单壁透照技术不可行时，方可采用双壁透照技术。 7.2.1 单壁透照（包括纵缝透照、环缝外透照和环缝周向透照等）。 7.2.1.1纵缝透照
纵缝单壁透照一般L1≥2L3，当胶片长300mm时，一次透照长度L3＝250~260mm。中薄板焦距用600mm，对于厚板用增大焦距来满足标准的要求。
7.2.1.2周向中心曝光
源置于圆筒形容器或管道环焊缝的中心，一次曝光检测整条环焊缝 ，焦距F为D/2+2（mm），当胶片长300mm时，L3选用250－260mm。当使用卷片时，L3就是整条焊缝。
7.2.1.3环缝外透法
采用外透法透照环缝时，一次透照长度应按公式计算。 7.2.2 双壁透照 7.2.2.1 双壁单影透照
7.2.2.能量的选择按标准的规定要求。
7.2.2.在满足K值的条件下，为了使一次透照长度L3增大，应尽可能地缩短L1（不得低于最小
L1）。
7.2.2.一次透照长度L3应按公式计算。 7.2.2.2 双壁双影透照
7.2.2.能量的选择按标准的规定要求。
7.2.2.小径管采用双壁双影透照，当同时满足以下条件应采用椭圆成像： 1）T（壁厚）≤8mm； 2）g（焊缝宽度）≤D/4mm。
椭圆成像时，开口宽度（上下焊缝投影最大间距）应控制在1倍焊缝宽度左右。不满足上述条件或椭圆成像有困难时，应采用垂直透照重叠成像。
7.2.2.2..3 小径管环向焊接接头100％检测的透照次数：采用椭圆成像时，当T/D≤时，相隔90
度透照2次。当T/D＞时，相隔120度或60度透照3次。垂直透照重叠成像时，一般应相隔120度或60度透照3次。
7.2.2.2..4由于结构原因不能进行多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照1次。此时
应保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。 暗室处理
暗室处理按公司《暗室工作管理制度》和《暗室操作规程》规定的内容进行。 底片评定
底片的评定由Ⅱ级以上人员进行。
底片的质量
7.5.1 底片黑度D（包括胶片本身的灰雾度）应符合以下规定： A级：≤D≤ AB级：≤D≤ B级：≤D≤
用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至，B级最低黑度允许降至。
7.5.2 每张底片应测定四点，即：中心标记处焊缝两侧母材的黑度和搭线标记处焊缝中心无缺陷
处的黑度。
7.5.3 底片上的像质计和识别系统齐全，位置准确，且不得掩盖受检焊缝的影像。 7.5.4 底片上至少应识别出表1规定的象质指数且长度不少于10mm。
7.5.5 底片有效评定区域内不得有胶片处理不当或其它妨碍底片准确评定的伪像。 8 . 验收标准及质量等级 验收标准
压力容器、压力管道等设备的验收合格等级按照设计、制造、安装等国家规范、标准规定执行。
压力容器的质量分级。
根据缺陷的性质和数量将焊缝质量分四级：
a)Ⅰ级焊缝内应无裂纹、未焊透、未熔合和条状缺陷； b)Ⅱ级焊缝内应无裂纹、未焊透和未熔合；
c)Ⅲ级焊缝内应无裂纹、未熔合及双面焊和加垫板的单面焊的未焊透。不加垫板的单面焊应采取有效的焊接方法，也不得有未焊透。 d)焊缝缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级 8.2.1 圆形缺陷的质量分级
8.2.1.1长宽比小于等于3的气孔、夹渣、夹钨或夹珠定义为圆形缺陷，它可以是圆形、椭圆型、
锥型或带尾巴等不规划形状.
8.2.1.2圆形缺陷按下表折算成点数,按下表的评定区内的点数评级.
圆形缺陷的评级
评定区 10×10 10×20 10×30 （mm×mm） 母材公称厚度T，≤10 ＞10~15 ＞15~25 ＞25~50 ＞50~100 ＞100 mm Ⅰ级 Ⅱ级 Ⅲ级 Ⅳ级 1 3 6 2 6 12 3 9 18 4 12 24 5 15 30 6 18 36 缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于T/2 备注：当母材公称厚度不同时，取壁厚较薄的厚度。 缺陷点换算表
缺陷长径(mm) 点数 注:
≤1 1 ＞1~2 2 ＞2~3 3 ＞3~4 6 ＞4~6 10 ＞6~8 15 ＞8 25 1)Ⅰ级焊缝和母材厚度等于或小于5mm的Ⅱ级焊缝内不计点数的圆形缺陷在评定区内不得多
于10个.
2)评定区框线的长边与焊缝平行.框线内必须完整包含最严重区域的主要缺陷,与框线外切的
不算点数.
8.2.2 条状缺陷的分级
长宽比大于3的缺陷定义为条状缺陷,条状缺陷的分级见表.
条状缺陷的分级（单位：mm）
级别 Ⅰ 单个条状缺陷长度 不允许 在长度为在12T的任意选定条状缺陷评定区域Ⅱ ≤T/3（最小可为4）且≤20 内，相邻两缺陷间距不超过6L的任一组条状缺陷的累计长度应不超过T，但最小可为4。 在长度为在6T的任意选定条状缺陷评定区域Ⅲ ≤2T/3（最小可为6）且≤30 内，相邻两缺陷间距不超过3L的任一组条状缺陷的累计长度应不超过T，但最小可为6。 Ⅳ 大于Ⅲ级者 条状缺陷总长 注：（1）表中“L”为该组缺陷中最长者的长度。 （2）条状缺陷评定区是指与焊缝平行的、具有一定宽度的矩形区，T≤25mm，宽度为4mm；25mm ＜T≤100mm，宽度为6mm；T＞100mm，宽度为8mm。
（3）当两个或两个以上条状缺陷在一直线上且相邻间距小于或等于较小夹渣长度时，应按单个连续缺陷处理，其间距也应计入缺陷长度。 8.2.3综合评级
在圆形缺陷评定区，同时存在圆形缺陷和条状缺陷时，应各自评级，其级别之和减一作为最终
级别。
压力管道的质量分级
8.3.1根据缺陷性质和数量，将焊缝缺陷分为四个等级。
Ⅰ级焊缝内应无裂纹，未熔合、未焊透和条状缺陷。 Ⅱ、Ⅲ级焊缝内应无裂纹，未熔合。 8.3.2圆形缺陷的质量分级
圆形缺陷的质量分级按8.2.1的要求进行。 8.3.3 条状缺陷的质量分级
长宽比大于3的缺陷定义为条状缺陷、条状缺陷的分级按8.2.2的要求进行。 8.3.4根部未焊缝的质量分级：
Ⅰ级焊缝不允许有未焊透，外径大于100mm（单面焊不加垫板）、外径小于等于100mm的小径管（不加垫板）环缝根部未焊透、内凹、咬边的质量分级分别见下面的表：
外径D＞100mm时（单面焊不加垫板）未焊透的分级
未焊透最大深度 单个未焊透最大长度 等级 与壁厚的百最大深度mm 分比％ Ⅰ 不允许 在任意6T的长度区内应不≤T/3（最小可为4）Ⅱ ≤10 ≤ 且≤20 任意300长度范围内总长度不大于30。 在任意3T的长度区内应不≤2T/3（最小可为6）大于T（最小可为6），且Ⅲ ≤15 ≤ 且≤30 任意300长度范围内总长度不大于40。 Ⅳ 大于Ⅲ级者 大于T（最小可为4），且未焊透累计长度 （mm） 注： 对断续未焊透，以未焊透本身的长度累计计算总长度。 外径D≤100mm时（单面焊不加垫板）未焊透的分级
未焊透深度 等级 与壁厚的百分比％ Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ ≤10 ≤15 ≤ ≤ 大于Ⅲ级者 最大深度mm 不允许 ≤10 ≤15 未焊透总长度与焊缝总长度的百分比％ 注： 对断续未焊透，以未焊透本身的长度累计计算总长度。 外径D＞100mm时根部内凹和根部咬边的分级
等 级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ 根部内凹和根部咬边最大深度 根部内凹和根部咬边累计长度 与壁厚的百分比％ 最大深度mm 不允许 ≤15 ≤20 ≤ ≤ 大于Ⅲ级者 在任意3T的长度区内应不大于T，且总长度不大于100。 注： 对断续根部内凹和根部咬边，以根部内凹和根部咬边本身的长度累计计算总长度。
外径D≤100mm时根部内凹和根部咬边的分级
等 级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ ≤15 ≤20 ≤ ≤ 大于Ⅲ级者 根部内凹和根部咬边最大深度 与壁厚的百分比％ 最大深度mm 不允许 ≤30 ≤30 根部内凹和根部咬边最大总长度与焊缝总长度的百分比％ 注： 对断续根部内凹和根部咬边，以根部内凹和根部咬边本身的长度累计计算总长度。 8.3.5综合评级：
在缺陷评定区内，同时存在几种类型的缺陷时，应先按各类缺陷分别评级，取质量级别最低的级别作为综合评级的级别；当各类缺陷级别相同时，则降低一级作为综合评级的级别。
铝制压力容器焊缝透照等级评定
8.4.1 根据缺陷的性质和数量，将焊缝缺陷分为四个等级：
a.Ⅰ级焊缝内应无裂纹、未熔合、未焊透、夹铜。 b.Ⅱ级焊缝内应无裂纹、未熔合和未焊透.
c.Ⅲ级焊缝内应无裂纹、未熔合以及双面焊和加垫板单面焊中的未焊透。允许存在单面不加垫板焊缝中尺寸不超过母材厚度的15％且不大于2mm的未焊透。
d. 焊缝缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。 8.4.2 圆形缺陷的确定和分级
a. 长宽比小于或等于3的缺陷定义为圆形缺陷。它们可是圆形、椭圆形、锥形或带有尾巴（在测定尺寸时应包括尾巴）等不规则的形状。
b. 圆形缺陷用评定区进行评定，评定区应选在底片上缺陷最严重部位，评定区的大小见下表
缺陷评定区
母材公称厚度T，mm 评定区尺寸 ≤20 10×10 ＞20～80 10×20 c. 评定圆形缺陷时将缺陷尺寸按下表换算成点数。如缺陷尺寸低于下表的规定，则不需换算成点数参加缺陷评定。
缺陷点数换算表
缺陷长径mm 点数 ≤1 1 ＞1～2 2 ＞2～3 3 ＞3～4 6 ＞4～6 10 ＞6～8 15 ＞8～10 25 不计点数的缺陷尺寸
母材公称厚度T，mm ≤20 ＞20～40 ＞40 d. 在评定区边界线上时，应把它划在该评定区内计算点数。 e. 圆形缺陷的分级见下表。
圆形缺陷的分级
评定区 10×10 mm×mm 母材厚度 ≤3 ＞3～5 ＞5～10 ＞10～20 ＞20～40 ＞40～80 10×20 缺陷长径，mm ≤ ≤ ≤％T Ⅰ 等 级 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 1 3 6 2 7 14 3 10 21 4 14 28 6 21 42 7 24 49 缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于2T/3或缺陷长径大于10mm 注：①表中的数字是允许缺陷点数的上限。 ②母材板厚不同时，取薄的厚度值。
f. 当评定区附近缺陷较少，且认为只用该评定区大小划分等级不适当时，经供需双方协商，可将评定区沿焊缝方向扩大3倍，求出缺陷总点数，用此值的1/3进行评定，可扩大评定区的处理办法。
g. 圆形缺陷的长径超过母材厚度的1/2或大于10mm（取其较小者）时作Ⅳ级处理。 h.Ⅰ级焊缝或母材厚度小于或等于5mm的Ⅱ级焊缝内不计点数的圆形缺陷，在评定区内不得多于10个。
i. 当Ⅲ级焊缝的缺陷连续存在，并超过评定区尺寸3倍时应评Ⅳ级。 8.4.3 条状缺陷的确定和分级
a. 长宽比大于3的缺陷定义为条状缺陷。
b. 条状缺陷的分级条状缺陷的分级按8.2.2的要求进行。 8.4.4 综合评级
a. 当条状缺陷和圆形缺陷连在一起时，应作为单个缺陷处理。
b. 在圆形缺陷评定区，同时存在圆形缺陷和条状缺陷时，应各自评级，其级别之和减一作为
最终级别。
钛制压力容器焊缝透照质量等级评定。
8.5.1 根据缺陷的性质和数量，将焊缝缺陷分为四个等级： a. Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ级焊缝内应无裂纹、未熔合、未焊透。 b. 焊缝缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。 8.5.2 圆形缺陷的确定和分级
a. 长宽比小于或等于3的缺陷定义为圆形缺陷。它们可以是圆形、椭圆形、锥形或带有尾巴
（在测定尺寸时应包括尾巴）等不规则的形状。
b. 圆形缺陷用评定区进行评定，评定区应选在底片上缺陷最严重的部位，评定区的大小见表。
当缺陷在评定区边界上时，应把它划在该评定区内计算点数。
c. 评定圆形缺陷时将缺陷尺寸按标准换算成点数。如缺陷尺寸低于标准的规定，则不需换算
成点数参加缺陷评定。
d. 评定区附近缺陷较少，且认为只用该评定区大小划分等级不适当时，经供需双方协商，可将评定区沿焊缝方向扩大3倍，求出缺陷总点数，用此值的1/3进行评定，可扩大评定区的处理办法。
缺陷评定区 mm
母材公称厚度T， mm 评定区尺寸 ≤20 10×10 缺陷点数换算表
缺陷长径≤1 mm 点数 1 2 4 不计点数的缺陷尺寸
母材公称厚度T， mm ≤10 ＞10～20 ＞20～50 e. 圆形缺陷的分级见下表 圆形缺陷的分级
评定区mm×mm 母材公称厚度T ≤3 mm 等 级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ 1 2 4 2 4 8 3 6 12 4 8 16 5 10 20 6 12 24 ＞3～5 ＞5～10 ＞10～20 ＞20～30 ＞30～50 10×10 10×20 缺陷长径 8 16 ＞1～2 ＞2～4 ＞4～8 ＞8 ＞20～50 10×20 缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于T/2 注： ①表中的数字是允许缺陷的上限。
②母材的板厚不同时，取薄的厚度值。
f. Ⅰ级焊缝或母材厚度小于或等于5mm的Ⅱ级焊缝内不计点数的圆形缺陷，在评定区内不得多于10个，当母材厚度大于5mm的Ⅱ级焊缝内不得多于20个，在Ⅲ级焊缝不得多于30个。超过者应分别将底片的等级降低一级。
8.5.3 条状缺陷的确定和分级
a. 长宽比大于3的缺陷定义为条状缺陷。
b. 条状缺陷的分级条状缺陷的分级按8.2.2的要求进行。 8.5.4 综合评级
a. 当条状缺陷和圆形缺陷连在一起时，应作为单个缺陷处理。
b. 在圆形缺陷评定区，同时存在圆形缺陷和条状缺陷时，应各自评级，其级别之和减一作为
最终级别。
9 . 记录、报告和资料保管。 记录
射线探伤记录由操作人员填写。射线底片评定记录由评片人员填写。 报告
射线检测报告由检测人员编制，检测责任工程师审核，具体参照《检测报告管理制度》。 检测资料和底片由资料员存档，至少保存七年。
三、射线检测工艺规程(GB/T3323-2005)
1.适用范围
本工艺规程X射线照相的基本方法以及焊缝质量分级。 本规程适用于金属材料板和管的熔化焊焊接接头。 2.引用标准
GB/T3323-2005《金属熔化焊焊接接头射线照相》 3.检测人员
3.3 检测人员必须经过技术培训，并按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》取得与其
工作相适应的资格证书。上岗前还应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证书。 3.4 检测人员应每年检查一次视力，校正视力不小于，评片人员还应辨别出400mm距离处高0.5mm、
间距0.5mm的一组印刷字母。 4.射线防护
射线对人体有不良影响，应遵守公司有关检测工作安全管理制度。 在现场工作人员随身佩带卫生防护站发的个人剂量片、个人报警器。 拍片现场划定“射线放射区”并放好警戒标记。
确认工作人员均已完成各自工作并离开辐射区，方可开启射线发生器进行透照。 每次透照完成后，均应用报警器确认射线装置是否停止辐射后，方可进入辐射现场。 现场作业完成后对仪器进行清点、核对无误后清理现场，撤除警戒标志方可撤离现场。 5. 受检表面要求及检测时机
.施工单位质量检验人员确认表面质量合格，接到检测委托后方可进行RT拍片检测。
.检测人员应对焊接工艺有所了解，对焊后需热处理和有产生延迟裂纹倾向材料的焊接接头，应在焊后24～48小时后方可进行RT拍片检测。 6.射线源和能量的选择
对不同透照厚度TA所允许的最高管电压(工作范围)应符合标准的规定。 在满足射线穿透能力的前提下，宜使用较低管电压，以获得更佳的照相灵敏度。 7.检测材料及辅助材料 胶片
7.1.1射线照相检测所使用的胶片系统类别依据相关规定选定。
7.1.2对不同的射线源，可选用的最低胶片系统类别见下表。 增感屏
金属增感屏的选用下表，在使用增感屏的过程中，胶片与增感屏应始终紧贴。
胶片系统类别和金属增感屏的选用 胶片系统曝光电压 增感屏种类 类别 A级 B级 <100Kv 100~150Kv 150~250Kv 250~500Kv 铅 C3 铅 铅 铅 C5 C5 ~（备注） ~ C5 C4 C4 ≤ ~ ~ ≤ ~ ~ 不用屏或屏厚≤ 不用屏或屏厚≤ 前屏厚度(mm) 后屏厚度(mm) 备注：只要在工件与胶片之间加0.1mm附加铅屏，就可以使用前屏≤0.03mm的真空包装胶片。 像质计 7.3.1像质计的选用：按照透照厚度和象质级别所需要达到的像质指数，选用符合标准要求的像质计具体要求见下表。
单壁透照（A级） 线型像质计
A级 像质计数值 公称厚度 t/mm 应识别的丝径/mm t≤ ＜t≤ ＜t≤ ＜t≤ ＜t≤ ＜t≤10 10＜t≤15 15＜t≤25 25＜t≤32 应识别的丝号 W18 W17 W16 W15 W14 W13 W12 W11 W10 32＜t≤40 40＜t≤55 55＜t≤85 85＜t≤150 150＜t≤250 t＞250 注：像质计置于射线源侧 W9 W8 W7 W6 W5 W4
单壁透照（B级） 线型像质计
B级 像质计数值 公称厚度 t/mm 应识别的丝径/mm t≤ ＜t≤ ＜t≤ ＜t≤ ＜t≤ ＜t≤12 12＜t≤20 20＜t≤30 30＜t≤35 35＜t≤45 45＜t≤65 65＜t≤120 120＜t≤200 200＜t≤350 t＞350 注：像质计置于射线源侧
双壁双影透照（A级） 线型像质计
应识别的丝号 W19 W18 W17 W16 W15 W14 W13 W12 W11 W10 W9 W8 W7 W6 W5 A级 像质计数值 公称厚度 ω/mm 应识别的丝径/mm ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤12 12＜ω≤18 18＜ω≤30 30＜ω≤40 40＜ω≤50 50＜ω≤60 60＜ω≤85 85＜ω≤120 120＜ω≤220 220＜ω≤380 ω＞380 注：像质计置于射线源侧
双壁双影透照（B级） 线型像质计
B级 像质计数值 公称厚度 ω/mm 应识别的丝径/mm ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤ 应识别的丝号 W19 W18 W17 W16 W15 应识别的丝号 W18 W17 W16 W15 W14 W13 W12 W11 W10 W9 W8 W7 W6 W5 W4 W3 ＜ω≤15 15＜ω≤25 25＜ω≤38 38＜ω≤45 45＜ω≤55 55＜ω≤70 70＜ω≤100 100＜ω≤170 170＜ω≤250 ω＞250 注：像质计置于射线源侧
W14 W13 W12 W11 W10 W9 W8 W7 W6 W5 双壁单影或双影透照（A级） 线型像质计
A级 像质计数值 公称厚度 ω/mm 应识别的丝径/mm ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤10 10＜ω≤15 15＜ω≤22 22＜ω≤38 38＜ω≤48 48＜ω≤60 60＜ω≤85 85＜ω≤125 125＜ω≤225 225＜ω≤375 应识别的丝号 W18 W17 W16 W15 W14 W13 W12 W11 W10 W9 W8 W7 W6 W5 ω＞375 注：像质计置于胶片侧
W4 双壁单影或双影透照（B级） 线型像质计
B级 像质计数值 公称厚度 ω/mm 应识别的丝径/mm ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤ ＜ω≤12 12＜ω≤18 18＜ω≤30 30＜ω≤45 45＜ω≤55 55＜ω≤70 70＜ω≤100 100＜ω≤180 180＜ω≤300 ω＞300 注：像质计置于胶片侧
7.3.2像质计的放置：线型像质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区的一端(被检区长度
的1/4部位)。钢丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直，细钢丝置于外侧。当射线源一侧无法放置像质计时，也可放在胶片一侧的工件表面上，但应通过对比试验，使实际象质指数达到规定的要求。
7.3.3采用射线源置于圆心位置的周向曝光技术时，像质计应放在内壁，每隔90°放一个。 7.3.4对比试验的做法：截取一个与被检工件完全相同的短试块，在被检部位的内外表面端各放
一个像质计，采用与工件相同的透照条件进行透照，观察所得到的底片以确定相应的象质指数。
应识别的丝号 W19 W18 W17 W16 W15 W14 W13 W12 W11 W10 W9 W8 W7 W6 7.3.5像质计放在胶片一侧工件表面上时，像质计应附加“F”标记，以示区别。
透照厚度的确定：透照厚度为射线透照方向上的母材公称厚度，多壁透照时，穿透厚度为各层材料公称厚度之和。 8.透照方法
按射线源、工件和胶片之间的相互位置关系，透照方式分为纵缝透照法、环缝外透法、环缝内透法、双壁单影法、双壁双影法五种。 9.透照参数 焦距计算公式：
F≥ L1＋ L2 L1 ≥ 10 df L2
式中： L1：焦点至工件表面的距离。
L2：工件表面至胶片的距离。 df：射源直径或Ｘ射线机有效焦点。 F：焦点至胶片的距离。
一次透照长度是指采用分段曝光时，每次曝光所检验的焊缝长度。 9.2.1. 直（纵）焊缝单壁单投影透照方法
1.分段透照示意图：
2/3
2.分段透照数量的计算方法:
胶片侧一次透照长度： L3＝２Ｌ1tgθ 底片有效长度： Leff＝２Ftgθ
θ＝Cosk K：透照厚度比（T/T）。 F：焦距（L1+L2）；
‘
-1-1
L1：焦点至工件表面的距离。 L2：工件表面至胶片的距离； L3：射源侧一次透照长度。
3.透照搭接标记应在射线源一侧。 9.2.2 直（纵）焊缝双壁单投影透照方法
1.分段透照示意图:
2.分段透照数量的计算方法:
胶片侧透照长度：L3 ＝２Ｆtgθ 底片有效长度：Leff＝２（F＋Ｌ2）tgθ θ＝Cosk F：焦距。 Ｋ：透照厚度比。
L3：胶片侧一次透照长度。 3.透照搭接标记应在胶片一侧。 9.2.3 环（曲）焊缝双壁双投影透照方法
1.双壁双投影示意图：
,
-1-1
,
2.外径小于或等于８９ｍｍ的钢管对接焊缝采用双壁双投影法时；射线束的方向应满足上下
焊缝的影象在底片呈椭圆形，其间距以３～１０ｍｍ为宜，最大间距不超过１５ｍｍ，通常采用偏心距方法进行透照，射源平移距离（S0）。 计算方法为：
S0＝(L1/L2) ×（a＋b）
S0：射源平移距离。 L2：工件表面至胶片距离。 L1：射源至工件表面距离。 b：钢管对接焊缝宽度。
a：上下焊缝的影象在底片呈椭圆形的间距。
(1)对外径大于76mm且小于或等于89mm的钢管,其焊缝以双壁双投影法透照时,至少分两
次透照间隔90。
(2)对外径小于或等于76mm的钢管，其焊缝以双壁双投影法透照时，如能保证其检出范围不
小于周长的90%，可允许椭圆一次成象。 (3)检出范围的计算：
L＝[（L1－4L2）/L1]％
L1：管外壁周长。
L2：专用像质计在底片上，不见钢丝区域一段。
9.2.4 环（曲）焊缝双壁单投影分段透照方法
1.双壁单投影分段透照示意图：
ｏ
2 双壁单投影分段透照数量（N）及底片有效长度（Leff）的计算方法:
∵N＝180/α。 α＝θ+η
O
θ＝Cosk
η＝Sin{ D/(2F－D ) }Sinθ F：焦距。 K：透照厚度比。 D: 钢管环焊缝外径。 胶片侧等分长度：L3＝AB
∴底片有效长度： Leff＝L3＝πD/N 3.透照搭接标记应在胶片一侧。 4.钢管环焊缝双壁单投影透照次数：
(1)外径大于89ｍｍ的钢管采用双壁单投影分段透照时，对K值的要求和一次透照长度的规定可根据具体情况(如管径和壁厚的大小及照相方法等级等)适当放宽，但整圈焊缝的透照次数不应小于4次，以免缺陷漏检。
(2)外径小于等于89mm的管子双壁单影法透照时，可不受K值约束，但一般不应小于2次，即至少应在互相垂直的方向上各透照一次。 9.2.5 环（曲）焊缝内透中心法（F ＝ R）
1.透照示意图：
,
,-1
-1-1
2.采用周向曝光时射源应与直径圆心重合。 3.此时透照搭接标记放在射线源和胶片侧均可。
4.钢管对接焊缝透照时，必须严格遵守L1 ≥ 10 df L2；当L1小于钢管内径时不得采用周向曝光。
9.2.6.环（曲）焊缝单壁内投影（F ＞ R）
1.分段透照示意图：
2/3
2.分段透照数量（N）及底片有效长度（Leff）的计算方法同9.2.4。 3.透照搭接标记应在胶片一侧。
9.2.7 环（曲）焊缝单壁内投影（F ＜ R ＝分段透照
1.分段透照示意图：
2.分段透照数量（N）及底片有效长度（Leff）的计算方法:
∵ N＝180/α
α＝η-θ θ＝Cosk
η＝Sin{ Di/(Ｄi－２Ｌ1) }Sinθ Di：环焊缝内径； K：透照厚度比。 胶片侧等分长度：L3 ＝πD/N D: 环焊缝外径。
∴ 底片有效长度：Leff＝πD/N＋２Ｌ2tgθ 3.透照搭接标记应在射线源一侧。 9.2.8 环（曲）焊缝单壁外投影分段透照
1.分段透照示意图：
,
-1 -1-1
O
2.分段透照数量（N）及底片有效长度（Leff）的计算方法:
∵N＝180°/α
α＝θ-η θ＝Cosk
η＝Sin{ D/(Ｄ＋２Ｌ1) }Sinθ D: 环焊缝外径。 K：透照厚度比。
一次透照长度：AB ＝ L3
∴ 底片有效长度：Leff＝πD/N＋２Ｌ2tgθ
焊缝的透照厚度比为K，环缝的A级和AB级K值一般不大于，B级K值一般不大于，纵缝的A级和AB级K值不大于，B级K值一般不大于。
射线束应指向被检部位的中心，高深莫测在该点与被检区平面或曲面的切面垂直，但需要时，也可从有利于发现缺陷的其它方向进行透照。如采用双壁透照法时，一般应使射线偏离焊缝轴线所在的平面进行倾斜透照，以免两侧焊缝影像重叠。 10.定位标记和识别标记
透照前胶片上应有被检部位的透照搭接标记(包括中心标记和搭接标记)、还得有工件编号、焊缝编号、部位编号、返修标记、日期等识别标记。搭接标记的安放应符合GB3323-2005标准附录C的规定。 11.暗室处理
暗室处理按公司《暗室工作管理制度》及《暗室操作规程》执行。 12.底片质量
黑度：选择的曝光条件应使底片有效评定区域内的黑度均满足如下要求： A级：≥ 经合同各方商定，可降为。
B级：≥ 经合同各方商定，可降为。
-1 -1-1
底片上的象质指数必须显示的最小钢丝直径与相应的象质指数应符合表2的要求。
底片上的像质计影像位置要求正确，定位标记和识别标记齐全，且不掩盖被检焊缝影像。底片上
有效区域内不应有因胶片处理不当引起的缺陷或其它妨碍底片评定的缺陷。 13.焊缝质量分级
根据缺陷的性质和数量将焊缝质量分四级：
a)Ⅰ级焊缝内应无裂纹、未焊透、未熔合和条状缺陷； b)Ⅱ级焊缝内应无裂纹、未焊透和未熔合；
c)Ⅲ级焊缝内应无裂纹、未熔合及双面焊和加垫板的单面焊的未焊透。不加垫板的单面焊未焊透允许长度按表7条状缺陷长度的Ⅲ级评定。 d)焊缝缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级 圆形缺陷的质量分级
13.2.1长宽比小于等于3的气孔、夹渣、夹钨或夹珠定义为圆形缺陷，它可以是圆形、椭圆型、
锥型或带尾巴等不规划形状.
13.2.2圆形缺陷按表5折算成点数,按表5的评定区内的点数评级. 表5 圆形缺陷的评级 评定区/mm 评定厚度T/mm 10×10 ≤10 1 3 6 ＞10~15 2 6 12 ＞15~25 3 9 18 10×20 ＞25~50 4 12 24 ＞50~100 5 15 30 10×30 ＞100 6 18 36 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ 缺陷点数大于Ⅲ级者 注: 1)表中的数字是允许值的上限. 2)圆形缺陷长径大于1/2T时,评为Ⅳ级.
3)Ⅰ级焊缝和母材厚度等于或小于5mm的Ⅱ级焊缝内不计点数的圆形缺陷在评定区内不得多
于10个.
4)评定区框线的长边与焊缝平行.框线内必须完整包含最严重区域的主要缺陷,与框线外切的
不算点数.
表6 缺陷点换算表 缺陷长径(mm) ≤1 ＞1~2 ＞2~3 ＞3~4 ＞4~6 ＞6~8 ＞8 点数 条状缺陷的分级
1 2 3 6 10 15 25 长宽比大于3的缺陷定义为条状缺陷,条状缺陷的分级见表7. 表7 条状缺陷的分级 质量母材厚度T 等级 T≤12 Ⅱ 12＜T＜60 T≥60 T≤9 Ⅲ 9＜T＜45 T≥45 Ⅳ 缺陷长度 最长为4mm 最长为1/3T 20 最长为6 最长为2/3T 30 在任一直线上相邻两缺陷间距不超过6L的任何一组缺陷,其累计长度在12T焊缝长度内不超过T 在任一直线上相邻两缺陷,间距不超过3L的任何一组缺陷,其累计长度在6T焊缝长度内不超 过T 大于Ⅲ级者 单个条状 条状缺陷总长 注：（1）表中“L”为该组缺陷,中最长者的长度。 （2）长宽比大于3的气孔评级与条状缺陷相同。
（3）当被检焊缝长度为小于12T（Ⅱ）或6T（Ⅲ）时，可按比例折算，当折算的条状缺陷总长小于单个条状缺陷长度时，以单个条状缺陷长度为允许值。
综合评级
在圆形缺陷评定区，同时存在圆形缺陷和条状缺陷时，应各自评级，其级别之和减一作为最终级别。
对允许存在根部内凹、根部咬边和单面未焊透的管子，应在焊缝边上放置槽形测深计以判断缺陷
的深度。根部内凹、根部咬边和设计焊缝系数小于等于的焊缝根部未焊透的分级见表8和表9。
表8 根部内凹和根部咬边的分级
根部内凹和根部咬边的深度 质量分级 占壁厚的百分数% Ⅰ Ⅱ ≤10 ≤20 深度，mm ≤1 ≤2 不限 长度mm Ⅲ Ⅳ 表9 未焊透的分级
≤25 大于Ⅲ级者 ≤3 未焊透的深度 质量分级 占壁厚的百分数% Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ 14.检测记录和报告 记录
射线探伤记录由操作人员填写。射线底片评定记录由评片人员填写。 报告
射线检测报告由检测人员编制，检测责任工程师审核，具体参照《检测报告管理制度》。 检测资料和底片由资料员存档，至少保存七年。
0 ≤15 ≤20 深度，mm 0 ≤ ≤ 大于Ⅲ级者 0 ≤10%周长 ≤15%周长 长度mm
四、超声波检测工艺规程(JB/T4730-2005)
1一般要求
主要内容和适用范围
1.1.1本规程规定了焊缝超声检测人员具备的资格、仪器探头、试块、检测范围、方法和质量分
级等。
1.1.2本规程采用A型脉冲反射式超声探伤仪器对钢板、锻件、钢管和焊缝进行检测。 1.1.3本规程按JB/T4730-2005的要求编写，符合《容规》和GB150的要求。
1.1.4检测工艺卡是本规程对具体工件的具体要求，由Ⅱ级以上人员按合同要求编制，其检测参
数规定的更具体。 引用标准
JB/T4730-2005《承压设备无损检测》 检测人员
1.3.1检测人员必须经过培训，按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》的要求，经理
论和实际考试合格，取得相应等级资格证书。
1.3.2检测人员必须每年检查一次视力，未经矫正或矫正视力应不低于。视力测试方法应符合GB11533-1989的规定。 仪器、探头和试块 1.4.1仪器、探头
1.4.1.1仪器和探头的组合灵敏度：在达到所检工件最大声程时，其灵敏度余量应≥10dB。 1.4.1.2衰减器精度：任意相邻12 dB误差在±1 dB以内，最大累计误差不超过1 dB。 1.4.1.3水平线性：水平线性误差不大于1％。
1.4.1.4在荧光屏满刻度的80％范围内线性显示。垂直线性误差不大于5％。 1.4.1.5探头
1.4.1. 晶片有效面积除另有规定外一般不应超过500mm，且任意一边长不大于25mm。 1.4.1. 单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2°，主声束垂直方向不应该有明显的双峰。 1.4.1. 直探头的远场分辨力应该大于或等于30dB，斜探头的远场分辨力应大于或等于6 dB。
2
1.4.2试块
a. 试块应采用与被检工件相同或相近似声学性能的材料制成，该材料用直探头检测时，不
得有大于Ф2mm 平底孔当量直径的缺陷。 b. 试块的制造要求应符合相关标准的规定。 c. 现场检测时，也可采用其它形式的等效试块。 检测的一般方法 1.5.1检测覆盖率
检测时探头的每次搜查覆盖应大于探头直径的15%。 1.5.2探头的移动速度
探头的扫查速度不应超过150mm/S，当采用自动报警装置扫查时，不受此限。
1.5.3扫查灵敏度
扫查灵敏度通常不得低于基准灵敏度
1.5.4应采用机油、浆糊、甘油和水等透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂。 1.5.5检测面
a. 检测面和检测范围的确定原则上保证检查到工件被检部分的整个体积；对于钢板和锻件
应检查到整个工件；而对焊缝则应检查到整条焊缝。
b. 检测前应经外观检查合格，所有影响超声检测的锈浊、飞溅、污物都应予以清除，其表
面粗糙度应符合检测要求。
校准
校准应在基准试块上进行，校准中应使超声主声束垂直对准反射体的轴线，以获得稳定的和最大的反射信号。
1.6.1仪器校准
在仪器开始使用时，应对仪器的水平线性进行测定，测定方法按相关规定进行。在使用过程中，
每三个月至少应对仪器的水平和垂直线性进行一次测定。 1.6.2探头校准
在探头开始使用时，应对探头进行一次全面的性能校准。测定方法按有关规定进行。 a. 斜探头校准
使用前，斜探头至少应进行前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力等的校准。使用过程中，每个工作日应校准前沿距离、K值和主声束偏离。 b. 直探头校准
直探头的灵敏度余量和分辨力应每个月检查一次。 1.6.3仪器和探头系统的复核
a. 复核时机
每次检测前均应对扫描线性、灵敏度进行复核，遇到下属情况应随时对其进行重新核查： （1） 校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时； （2） 开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时； （3） 连续工作4小时以上时； （4） 工作结束时； b. 扫描量程的复核
如果距离一波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过读数的10％，则扫描量程应予以修正，并在检测记录中加以说明。
c.距离一波幅曲线的复核时，校核应不少于3点，如曲线上任何一点幅度下降2dB，则应对上一次以来所有的检测结果进行复核，如幅度上升2dB，则应对所有的记录信号进行重新评定。
报告和存档
超声检测报告经责任工程师审核后由技术负责人签发，压力容器焊缝检测报告，与其它检测资料一起交档案室存档；资料存档不少于七年。
2. 承压设备用钢板超声检测 检测范围和一般要求
适用于板厚6-250mm的钢制承压设备用板材的超声检测和缺陷评定。奥氏体钢板材的超声检测也可参照执行。
探头选用
探头的选用应按表1的规定执行。 标准试块
2.3.1用双晶直探头检测壁厚小于或等于20mm的钢板时，采用JB/规定的标准阶梯试块。 2.3.2用单直探头检测板厚大于20mm的钢板采用Φ5平底孔试块，应符合表2的规定。试块厚度
应与被检测钢板厚度相近。 检测灵敏度
2.4.1板厚小于或等于20mm时，用试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50％，
再提高10 dB作为检测灵敏度。
2.4.2板厚大于20mm时，用Φ5平底孔试块将平底孔第一次反射波高度调整到满刻度的50％作
为检测灵敏度。 表 1探头选用
探头晶片尺寸 板厚mm 采用探头 公称频率 双晶探头 晶片面积不6-20 双晶直探头 5MHZ 小于150mm ＞20～单晶直探头 250 表2
试块编号 被检钢板厚度 检测面到平底孔的距离S 1 2 3 4 5 6 ＞20～40 ＞40～60 ＞60～100 ＞100~160 ＞160~200 ＞200~250 15 30 50 90 140 190 ≥20 ≥40 ≥65 ≥110 ≥170 ≥220 试块厚度T / 晶片面积不小于200mm 22单晶直探头 / 圆晶片直径14～25mm,或方注：板厚大于60mm时，也可取无缺陷的完好部位的第一次底波来校准灵敏度，其结果应与2.4.2
条的要求相一致。 检测面
2.5.1 可选用钢板的任一轧制平面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有要求时，也可对钢
板的上下两轧制平面进行检测。
2.5.2 扫查方式
a. 探头沿垂直于钢板压延方向，间距为100mm的平行线进行扫查。在钢板坡口预定线两侧
各50mm（当板厚超过100mm，以板厚的一半为准）内应作100％扫查。 b. 根据合同、技术协议或图样的要求，也可以进行其它形式的扫查。 2.5.3 在检测过程中，发现下列三种情况之一者即作为缺陷：
a. 缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于满刻度的50％，即F1≥50％者。
b. 当底面第一次反射波（B1）波高大于或等于满刻度的50％，即B1＜100％，而F1/B1≥50％者。
c. 当底面波第一次反射波（B1）波高小于满刻度的50％，即B1＜50％者。 2.5.4 缺陷的边界或指示长度的测定方法
a. 检出缺陷后，应在它的周围继续检测，以确定缺陷的延伸。 b.
用双晶探头确定缺陷的边界或指示长度时，探头的移动方向应与探头的声波分割面相垂
直，并使缺陷波下降到检测灵敏度条件下荧光屏满刻度的25％或使缺陷第一次反射波高与底面第一次反射波高之比为50％。此时，探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果以较严重者为准。
c. 用单直探头确定缺陷的边界或指示长度时，移动探头，使缺陷波第一次反射波下降到检测灵敏度条件下荧光屏满刻度的25％或使缺陷第一次反射波与底面第一次反射波之比为50％。此时，探头中心移动的距离即为缺陷的指示长度，探头中心即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果以较严重者为准。
d. 确定2.5.3 c 条缺陷的边界或指示长度时，移动探头，使底面第一次反射波高升到荧光屏满刻度的50％。此时，探头中心移动的距离即为缺陷指示长度，探头中心即为缺陷的边界点。
e. 当采用第二次缺陷波和第二次底波来评定缺陷时，检测灵敏度以相应的第一次反射波来
校准。 缺陷的评定方法
2.6.1缺陷指示长度的评定规则
一个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度 2.6.2单个缺陷面积的评定规则
a. 一个缺陷按其指示的最大面积作为该缺陷的单个指示面积。当其小于表3的规定时，可不作记录。
b. 多个缺陷其相邻间距小于100mm或间距小于相邻小缺陷的指示长度（取其较大值）时，其各块缺陷面积和作为单个缺陷指示面积。 2.6.3缺陷面积占有率的评定规则
在任一1m×1m检测面积内，按缺陷面积所占的百分比来确定。 表3 等 级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 钢板缺陷等级评定
2.7.1钢板缺陷等级划分见表3
2.7.2在坡口预定两侧各50mm（板厚大于100mm时，以板厚的一半为准）内，缺陷的指示长度大
于或等于50mm时，则应判废，不作评级。
2.7.3在检测过程中，检测人员如确定钢板中有白点、裂纹等危害性缺陷存在时，应评为Ⅴ级，
作叛废处理。 单个缺陷指示长度mm ＜80 ＜100 ＜120 ＜150 单个缺陷指示面积cm ＜25 ＜50 ＜100 ＜100 2在任一1m×1m检测面积内存在缺陷面积百分比％ ≤3 ≤5 ≤10 ≤10 超 过 Ⅳ 级 者 以下单个缺陷指示面积不记cm ＜9 ＜15 ＜25 ＜25 23. 承压设备用锻件超声检测 检测范围和一般要求
适用于承压设备用碳素钢和低合金钢锻件的超声检测和质量分级。本条不适用于奥氏体钢等粗晶材料的超声检测，也不适用于内外半径之比小于80％的环形和筒形锻件的周向横波检测. 试块
应符合1.4.2. a条的规定. 3.2.1纵波直探头标准试块
试块应采用CSI和CS2试块,也可自行加工,其尺寸按表4的规定. 表4 纵波直探头采用的标准试块尺寸
试块序号 L D CSI-1 50 50 CSI-2 100 60 CSI-3 150 80 CSI-4 200 80 L为试块检测面到平底孔的距离mm. D为试块直径mm
3.2.2纵波双晶直探头标准试块
a. 工作检测距离小于45mm时，应用纵波双晶直探头试块。 b. 纵波双晶直探头标准试块的尺寸按表5的规定。 表5纵波双晶直探头标准试块尺寸
序号 Φ2 Φ3 检测距离L 1 2 3 4 5 5 10 15 20 25 Φ4 Φ5 6 7 8 9 30 35 40 45 3.2.3检测面是曲面时，应采用对比试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失。 检测时机
原则上安排在热处理后，槽、孔、台阶加工前进行。在热处理后锻件形状不适合检测时，也可在热处理前进行，但在热处理后仍应对锻件进行尽可能完全的检测。检测面的表面粗糙度Ra不应大于μm。
检测方法
锻件一般应进行纵波检测。对筒形锻件还应进行横波检测。
3.4.1横波检测
横波检测应按JB/标准附录C（规范性附录）的要求进行。 3.4.2纵波检测
a. 原则上应从两个相互垂直的方向进行检测，尽可能地检测到锻件的全面积。 b. 锻件厚度超过400mm时，应从相对两端面进行100％的扫查。 检测灵敏度的确定
3.5.1纵波直探头检测灵敏度的确定
当被检部位的厚度大于或等于探头的三倍近场区时，原则上可选用底波计算确定检测灵敏度。对由于几何形状所限，不能获得底波或壁厚小于探头的三倍近场区时，可直接采用试块法来确定检测灵敏度。 3.5.2纵波双晶直探头检测灵敏度的确定
根据需要选择不同直径平底孔的试块，并依次测试一组不同检测距离的平底孔（至少三个）。调节衰减器，使其中最高的回波幅度达到满刻度的80％。不改变仪器的参数，测出其它平底孔回波最高点，将其标在荧光屏上，连接这些点，即是对应于不同直径平底孔
的纵波双晶直探头的距离－波幅曲线，并以此作为检测灵敏度。
3.5.3检测灵敏度一般不低于最大检测距离处的Φ2mm平底孔当量直径。 工件材质衰减系数的测定
3.6.1在工件无缺陷完好区域，选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位，调节仪器使第一
次底面回波幅度（B1）为满刻度的50％，记录此次衰减器的读数，再调衰减器，使第二次底面回波幅度（B2）为满刻度的50％，两次衰减器读数之差即为（B1－B2）的dB差值。 3.6.2衰减系数的计算公式（T＞3N）：
a=[(B1-B2)-6dB]/2T
式中：a---------衰减系数，dB/mm（单程）； (B1-B2)---------两次衰减器的读数差，dB； T-----------------工件检测厚度，mm； N-----------------单直探头近场区长度，mm。 3.6.3工件上三处衰减系数的平均值即为该工件的衰减系数。 缺陷当量的确定
3.7.1采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量。对于三倍近场区内的缺陷，可采用单直探头或双晶
直探头的距离－波幅曲线来确定缺陷当量，也可采用其它等效方法来确定。 3.7.2计算缺陷当量时，当材质衰减系数超过4 dB/m，应考虑修正。 缺陷记录
3.8.1记录当量直径超过Φ4mm的单个缺陷的波幅和位置。 3.8.2密集性缺陷：记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布。
饼形锻件应记录大于或等于Φ3mm当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位，其边界可由6 dB法决定。应按表6要求记录底波降低量。
缺陷等级评定
3.9.2底波降低量的等级评定见表6. 3.9.1单个缺陷的等级评定见表7. 3.9.3密集区缺陷等级评定见表8.
3.9.4表6、表7和表8的等级应作为独立的等级分别使用。
3.9.5如果被检测人员判定为危害性缺陷时，可以不受上述条文的限制。
3.9.6如果工件的材质衰减对检测效果有较大的影响，应重新进行热处理。 表6由缺陷引起底波降低量的等级评定dB
等级 缺陷当量BG/BF 直径 表7单个缺陷的等级评定mm 等级 缺陷当量直径 Ⅰ ≤Φ4 Ⅱ Φ4+ (>0-8 dB） Ⅲ Φ4+ (>8-12dB） Ⅳ Φ4+ (>12-16dB) Ⅴ Φ4+ >16dB ≤8 ＞8～14 ＞14～20 ＞20～26 ＞26 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 表8密集区域缺陷的等级评定
等级 密集区缺陷占检测总0 面积的百分比％ 3.9.7 锻件修补后，应按本标准进行评定。 4. 钢制承压设备焊缝超声检测 检测范围和一般要求
规定了焊缝缺陷的超声检测方法及检验结果的等级评定。适用于母材厚度为8～400mm全焊透熔化焊钢对接焊缝和管座角焊缝的超声波检测。不适用于铸钢及奥氏体钢焊缝，外径小于159mm的钢管对接焊缝，内径小于或等于200mm的管座角焊缝，也不适用于外径小于250mm或内外径之比小于80％的纵向焊缝检测。 试块
4.2.1 应符合1.4.2 a条规定。
4.2.2 采用试块为CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA。其形状和尺寸应分别符合标准要求。 4.2.3 CSK-ⅠA、CSK-ⅡA 和CSK-ⅢA试块适用壁厚范围为6～120mm的焊缝，在满足灵敏度要求
下，也可采用其它形式的等效试块。
＞0～5 ＞5～10 ＞10～20 ＞20 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 4.2.4 检测曲面工件，如检测面曲率半径R小于或等于W/4（W为探头接触面宽度，环焊缝检测
时为探头长度）时，应采用与检测面曲率相同的对比试块。 检测面
a.
压力容器焊缝检测一般采用一种K值探头，利用一次反射法在焊缝的单面双侧对整个焊
2
接接头进行检测。当母材厚度大于46mm时，采用双面双侧直射法检测。对于要求比较高的焊缝，根据实际需要也可将焊缝余高磨平，直接在焊缝上检测。 b.
检测区域的宽度是焊缝本身，再加上焊缝两侧各相当于母材厚度的30％的一段区域，这
个区域最小为10mm。 c.
探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂质。检测表面应平整光滑，便于探头
的自由扫查，其表面粗糙度Ra应小于μm，一般应进行打磨。 (1).采用一次反射法检测时,探头移动区应不小于;
P=2TK
式中:P-跨距,mm；
T-母材厚度,mm； K-探头K值；
(2)采用直射法检测时,探头移动区应不小于.
d. 去除余高的焊缝,应将余高打磨到与相邻母材平齐.保留余高的焊缝,如果焊缝表面有咬边．较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨，并作圆滑过渡，以免影响检验结果的评定。 4.3.2 探头K值
斜探头的K值选取可参照表9的规定，条件允许时，尽量采用较大K值探头。 表9 推荐应用的斜探头K值
板厚Tmm 6-25 ＞25-46 ＞46-120 K值 － － － ＞120-400 4.3.3 母材的检验
－ 斜探头扫查声束通过的母材区域，应先用直探头检测，以便检测是否有影响斜探头检测结果的分层或其它种类缺陷存在，该项检测仅作记录，不属于对母材的验收检测。母材检测的规程要点如下：
a. 方法：接触式脉冲反射法，采用频率２－５ＭＨＺ，晶片直径１０－２５mm； b. 灵敏度：将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的１００％
c. 记录：凡缺陷信号幅度超过荧光屏满刻度20％的部位，应在工件表面作出标记，并以记录。
距离一波幅曲线的绘制
4.4.1距离一波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成，该曲线由评定线、定量
线、和判废线组成，评定线与定量线之间（包括评定线）为Ⅰ区，定量线与判废线之间（包括定量线）为Ⅱ区，判废线及其以上为Ⅲ区。 4.4.2距离一波幅曲线的灵敏度选择
a. 壁厚为6－120mm的焊缝，其距离一波幅曲线灵敏度按表10的规定。
b. 直探头的距离一波幅曲线灵敏度按表11的规定。距离一波幅曲线的制作可在ＣＳ２试
块上进行，其组成见３.４.１.
c. 检测横向缺陷时,应将各线灵敏度均提高6dB。
d. 检测面曲率半径Ｒ小于或等于Ｗ/４时,距离一波幅曲线绘制应在曲面对比试块上进
行.
e. 工件的表面耦合损失和材质衰减应与试块相同.否则应按规定进行补偿，在一跨距声程
内最大传输损失差不超过２dB时可不进行补偿. f. 扫查灵敏度不低于最大声程处的评定线灵敏度. 表１０距离一波幅曲线的灵敏度
试块型式 CSK-ⅡＡ 板厚mm 6-46 评定线 定量线 判废线 ２
Φ2×40-18db Φ2×40-12db Φ2×40-4db ＞46-120 Φ2×40-14db Φ2×40-8db CSK-ⅢＡ 8-15 ＞15-46 Φ1×6-12db Φ1×6-9db Φ1×6-6db Φ1×6-3db Φ1×6 Φ2×40+2db Φ1×6+2db Φ1×6+5db Φ1×6+10db ＞46-120 Φ1×6-6db 表１１ 直探头距离-波幅曲线的灵敏度
评定线 Φ2mm平底孔 检测方法
4.5.1 平板对接焊缝的检测
a.
定量线 Φ３mm平底孔 判废线 Φ６mm平底孔 为检测纵向缺陷,原则上采用一种Ｋ值探头或两种Ｋ值探头在焊缝的单面双侧进
行检测.母材厚度大于４６mm时,采用双面双侧检测,如受几何条件限制,也可在焊缝双面单侧采用两种Ｋ值探头进行检测.斜探头应垂直于焊缝中心线放置在检测面上作锯齿型扫查.探头前后移动的范围应保证扫查到全部焊缝截面.在保持探头垂直焊缝作前后移动的同时,还应作１０°~１５°的左右转动.当壁厚大于４０mm且单侧坡口角度小于５°时,应该采用串列式检测.
b. 为检测焊缝及热影响区的横向缺陷应进行平行扫查.检测时可在焊缝两侧边缘使探头与焊
缝中心线成１０°~２０°作斜平行扫查.焊缝余高磨平时.可将探头放在焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查.
c. 为确定缺陷的位置、方向和形状,观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号,可采用
前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式.
4.5.2 曲面工件对接焊缝的检测.
a. 检测面为曲面时,可尽量按平板对接焊缝的检测方法进行检测.对于受几何形状的限制,无法检测的部位应予以记录.
b. 纵缝检测时,对比试块的曲率半径与检测面曲率半径之差应小于１０%
(１) 根据工件的曲率和材料厚度选择探头Ｋ值,并考虑几何临界角的限制.确保声束能扫查
到整个焊缝.
(２) 探头接触面修磨后,应注意探头入射点和Ｋ值的变化,并用曲率试块作实际测定. (３) 当检测面曲率半径R大于Ｗ/４且采用平面对比试块调节仪器时,应注意到荧光屏指示
的缺陷深度或水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的差异,必要时应进行修正.
c.环缝检测时,对比试块的曲率半径应为检测面曲率半径的０.９~１.５倍. 缺陷定量检测.
4.6.1 灵敏度应调到定量线灵敏度.
4.6.2 对所有反射波幅超过定量线的缺陷,均应确定其位置、最大反射波幅和缺陷当量. 4.6.3 缺陷定量.
应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量大小和缺陷指示长度△Ｌ
a. 缺陷当量大小.用直探头检测时,用当量平底孔直径表示.可采用公式计算距离\\波幅曲
线和试块对比来确定.用斜探头检测时,用ＳＬ±dB来表示. b. 缺陷指示长度△Ｌ的测定采用以下方法:
(１) 当缺陷反射波只有一个高点，且位于Ⅱ区时，用6dB法测其指示长度。
(２) 当缺陷反射波峰值起伏变化、有多个高点.且位于Ⅱ区时，应以端点dB法测其指示长度. (３) 当缺陷反射波峰位于Ⅰ区,如认为有必要记录时,将探头左右移动,使波幅 降到评定线,以此测定缺陷指示长度. 缺陷评定
4.7.1超过评定线的信号应注意其是否有裂纹等危害性缺陷特征.如有怀疑时,应采取改变探头Ｋ
值.增加检测面.观察动态波型并结合工艺特征作判定. 如对波型不能判断时,应辅以其它检测方法作综合判定.
4.7.2缺陷指示长度小于１０mm时按５mm计.
4.7.3相邻两缺陷在一直线上,其间距小于其中较小的缺陷长度时,应作为一条缺陷处理.以两缺
陷长度之和作为其指示长度(不考虑间距)
缺陷等级评定
4.8.1不允许存在下列缺陷
a. 反射波幅位于判废线及Ⅲ区的缺陷.
２
b. 检测人员判定为裂纹等危害性的缺陷.
4.8.2 最大反射波幅位于Ⅱ区的缺陷.根据其指示长度按表12的规定于以评级. 4.8.3 最大反射波幅低于定量线的非裂纹类缺陷，均评为Ⅰ级.
4.8.4 不合格的缺陷应返修.返修部位及热影响区仍按本标准进行检测和等级评定. 表12 Ⅱ区缺陷的等级评定 等级 Ⅰ 6~120 过30 Ⅱ 6~120 40 Ⅲ 注: ①板厚不等的焊缝以薄板为准.
②当焊缝长度不足９Ｔ(Ⅰ级)或４.５Ｔ(Ⅱ级)时,可按比例折算. ５.管座角焊缝超声波探伤 ５.１适用范围:
适用于锅炉压力容器管座角焊缝的超声波检测.
５.２探伤器材
５.２.１选用Ａ型脉冲反射式超声波探伤仪,其工作频率范围为２-５ＭＨＺ,水平线误差不大于
１%,垂直线性误差不大于５%.
５.２.２探头
采用单晶直探头和斜探头.直探头频率为２.５ＭＨＺ,晶片直径１０-２５mm;斜探头声束轴线水平偏离角不大于２,主声束垂直方向不应有明显的双峰.探头Ｋ值选择应符合下表13的规定.
表13 探头Ｋ值选择
母材厚度(mm) Ｋ值(折射角) ０
板厚Ｔ 单个缺陷的指示长度L Ｌ=1/3Ｔ最小为10.最大不超多个缺陷的累计指示长度Ｌ 在任意９Ｔ焊缝长度范围内Ｌ不超过Ｔ 在任意Ｔ焊缝长度范围内Ｌ不超过Ｔ ///Ｌ=2/3T最小为12最大不超过超过Ⅱ级者 6~25 ＞25~46 ＞46 ５.２.３试块
a. 标准试块:ＣＳＫ-ⅠＡ b. 对比试块: ＣＳＫ-ⅢＡ
~ (72~60) ~ (68~56) ~ (60~45) 000000c. 当施工验收规范或设计文件另有规定时,也可以采用验收规范或设计文件要求的其它形式的标准试块和对比试块. ５.２.４耦合剂:化学浆糊\\机油 ５.３工艺参数 ５.３.１检测频率
一般采用２.５ＭＨＺ,薄壁探伤时,可采５ＭＨＺ..
５.３.２扫描时基线调节
a. 直探头扫查时,母材壁厚小于或等于２０mm时,应使荧光屏出现5次底波,壁厚大于或等于２０mm时,荧光屏应出现至少２次底波.
b. 斜探头扫查时, 母材壁厚小于或等于２０mm时,一般采用水平１：１调
节,壁厚大于２０mm时,一般采用深度１：１调节.
５.３.３探伤灵敏度:
a. 直探头扫查时,将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的１００%, 作为检测灵敏度.
b. 斜探头扫查时,不低于评定线灵敏度.
表面补偿:一般为4dB (当表面粗糙度Ｒa＞μm时应实测).
５.３.４检测方式:
根据焊缝结构形式,管座角焊缝的检测可选择以下一种或几种方式组合实施检测.检测方式的选择应由合同双方商定,并考虑主要检测对象和几何条件的限制. a. 在接管内壁用直探头检测. b. 在容器内壁用直探头检测
c. 在接管外壁用斜探头检测. d. 在接管内壁用斜探头检测. e. 在容器外壁用斜探头检测. ５.４ 检测操作
５.４.１打开电源,连接仪器与探头, 按５.３.３条的规定调节探伤灵敏度.
５.４.２按５.３.４条的规定的检测方式进行检测操作,探头的移动速度不得大于１５０mm/s. ５.４.３对于所有超过定量线的缺陷,均应测定其位置、最大反射波幅和缺陷当量. ５.４.４缺陷定量:
５.４.４.１用直探头检测时,可用公式计算,距离――波幅曲线和试块对比来确定缺陷当量直
径.
５.４.４.２用斜探头检测时,当缺陷反射波只有一个高点且位于Ⅱ区时,用６dB法测量缺陷的指
示长度;当缺陷反射波有多个高点且位于Ⅱ区时,用端点６dB法测量缺陷的指示长度;当缺陷反射波位于Ⅰ区,如认为有必要记录时,将探头左右移动使波幅降到评定线,以此测定缺陷指示长度.
５.４.５缺陷评定:
缺陷评定应按规范\\施工图纸规定的验收标准进行评定。
６.Ｔ型焊缝超声波探伤 ６.１ 适用范围
适用于厚度不小于８mmＴ型接头的超声波检测.
６.２ 探伤器材 ６.２.１探伤仪器
选用Ａ型脉冲反射式超声波探伤仪,其工作频率范围为２～５ＭＨＺ,水平线误差不大于１%,垂直线性误差不大于５%.
６.２.２探头
采用单晶直探头和单晶斜探头.直探头频率为２～５ＭＨＺ,晶片直径１０~２５mm;斜探头声束轴线水平偏离角不大于２,主声束垂直方向不应有明显的双峰.探头Ｋ值选择应符合下表的规定:
０
母材厚度(mm) 6~25 ＞25~46 ＞46 ６.２.３试块
a. 标准试块:ＣＳＫ-ⅠＡ b. 对比试块: ＣＳＫ-ⅢＡ
Ｋ值(折射角) ~ (72~60) ~ (68~56) ~ (60~45) 000000c. 当施工验收规范或设计文件另有规定时,也可以采用验收规范或设计文件要求的其它形式
的标准试块和对比试块.
６.２.４耦合剂:化学浆糊\\机油 ６.３ 工艺参数 ６.３.１检测频率
一般采用２.５ＭＨＺ,薄壁探伤时,可采５ＭＨＺ.
６.３.２灵敏度调整:直探头探伤时,利用翼板底波或平底孔试块调整灵敏度;斜探头探伤时,按
平板对接焊缝方法调节.
６.４检测操作
６.４.１确定焊缝的位置:在Ｔ型焊缝外侧探伤时,探伤前要在翼板外侧测定并标出腹板线及焊
缝的位置.
６.４.２扫查方式:直探头探伤时,探头应在焊缝及热影响区内扫查;斜探头探伤时,探头需在焊
缝两侧作垂直于焊缝的锯齿形扫查,每次移动的间距不大于晶片直径,同时在移动过程中作１０-１５转动.
６.４.３缺陷的辨别:
６.４.３.１采用直探头探伤时,要注意区分底波与焊缝中未焊透和层状撕裂,发现缺陷后确定缺
陷的位置,指示长度和当量大小.
６.４.３.２斜探头探伤时,探头在腹板和翼板焊缝两侧沿垂直于焊缝方向扫查,焊角反射波强烈,
当焊缝中存在缺陷时,缺陷波一般出现在焊角反射波前面.
０
０
６.５ 缺陷评定:
缺陷评定应按规范\\施工图纸规定的验收标准进行评定.
７.无缝钢管超声波检测 ７.１使用范围
本条适用于外径为12-660mm,壁厚大小或等于２mm的无缝钢管或外径为12-140mm,壁厚2-35mm的不锈钢管的超声波检测和缺陷等级评定.本条不适用于分层缺陷的超声波检测,也不适用于外径之比小于８０%的钢管周向横波检测.
７.２ 探伤仪器
７.２.１选用Ａ型脉冲反射式超声波探伤仪,其工作频率范围为２～５ＭＨＺ,水平线误差不大于
１%,要直线性误差不大于５%.
７.２.２探头
接触法检测时,采用斜探头,晶片长度或直径不大于２５mm,频率为２.５-５MHz,折射角一般为４５,探头斜块应修磨成与管材表面相吻合的曲面.液浸法检测时,使用线聚焦或点聚焦直探头.
７.２.３对比试样
对比试样应选取与被检测钢管的规格相同,材质、热处理工艺和表面状况相同或相似的钢管制备,对比试样不得有影响人工缺陷正常显示的自然缺陷.对比试样纵向缺陷的尺寸, 人工 V型槽和位置应符合JB/T4730的相关规定.
７.３ 检测方法:为直接接触法和液浸法. ７.４ 检测操作 ７.４.１直接接触法 ７.４.１.１灵敏度的确定
探头置于人工对比试块上将内壁人工尖角槽的回波高度调整到荧光屏满刻度的８０%,再移动探头找出外壁人工V型槽的最大回波,荧光屏上标出并连接两点,即得到探头的距离—波幅曲线,以此作为基准灵敏度.扫查灵敏度一般应比基准灵敏度提高６db. 检测时超声波束应由钢管横截面一侧倾斜入射,在管壁内沿周向呈锯齿传播.探头相对钢管螺旋进给应保证超声波束对钢管进行１００%扫查,并且有不小于１５%的覆盖率.
０
每根钢管应从管子两端沿相反方向检测一次.
７.４.２液浸法 ７.４.２.１参数选择
a. 偏心距的选择:Ｘ= + )/2 式中:Ｘ:偏心距 Ｒ:管材外径 r. 管材内径
b. 水层厚度的选择:水层厚度应大于钢管中横波声程的１/２. c. 探头焦距Ｆ的选择:Ｆ=Ｈ+(Ｒ-Ｘ)
式中: Ｈ:水层厚度
７.４.２.２灵敏度的确定
调整灵敏度时,一面用适当的速度转动管子,一面将探头慢慢偏心,使对比试样管内外人工缺陷产生的回波幅度都达到荧光屏刻度的５０%,以此作为基准灵敏度.如达不到要求,也可在内外壁设立不同的报警电平.扫查灵敏度度一般应比基准灵敏度提高６db. 检测时超声波束应由钢管横截面一侧倾斜入射,在管壁内沿周向呈锯齿传播.探头相对钢管螺旋进给应保证超声波束对钢管进行１００%扫查,并且不小于１５%的覆盖率. 每根钢管应从管子两端沿相反方向检测一次.
７.５验收及结果评定
无缝钢管的验收与结果评定按所采用的技术规范或图纸要求的验收标准执行.
８.记录和报告.
超声波检测记录和报告应符合标准及本公司相关规定。
２
２１/２
六、磁粉检测工艺规程（JB/T4730-2005）
1．适用范围
本工艺规程规定了承压设备常用磁粉检测方法（磁轭、交叉磁轭湿连续法）及质量分级要求。 本工艺规程适用于铁磁性材料制承压设备的原材料、零部件和焊接接头表面、近表面缺陷的检测，
不适用于奥氏体不锈钢和其它非铁磁性材料的检测。
与承压设备有关的支承件和结构件，如有要求也可参照本规程进行磁粉检测。 2．引用标准
JB/T4730-2005《承压设备无损检测》 3 一般要求 磁粉检测人员
3.1.1 检测人员必须经过技术培训，按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》取得与其工作相适应的资格证书。
3.1.2 磁粉检测人员的未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于（小数记录值为），并一年检查一次，不得有色盲。 磁粉检测程序
磁粉检测程序如下： a） 预处理； b） 磁化；
c） 施加磁粉或磁悬液； d） 磁痕的观察与记录； e） 缺陷评级； f） 退磁； g） 后处理。 磁粉检测设备 3.3.1 设备
磁粉检测设备应符合JB/T 8290的规定。 3.3.2 提升力
当使用磁轭最大间距时，交流电磁轭至少应有45N的提升力；直流电磁轭至少应有177N的提升力；交叉磁轭至少应有118N的提升力(磁极与试件表面间隙为0.5mm)。 3.3.3 黑光辐照度及波长
采用荧光磁粉检测时，使用的黑光灯在工件表面的黑光辐照度应大于或等于1000μW/cm，黑光的波长应为320nm～400nm，中心波长约为365nm。黑光源应符合GB/T 16673的规定。 3.3.4 辅助器材
一般应包括下列器材：
a） A1型、C型、D型和M1型试片； b） 磁悬液浓度沉淀管； c） 2倍～10倍放大镜； d） 黑光灯； e） 白光照度计； f） 黑光辐照计； g） 磁场强度计。 磁粉、载体及磁悬液 3.4.1 磁粉
常用磁粉为黑色磁膏和荧光磁粉。在特殊情况下，也可使用其他种类磁粉，但其粒度和性能等要求应符合JB/T 6063的规定。 3.4.2 载体
湿法时应采用水或低粘度油基载体作为分散媒介。若以水为载体配置荧光磁粉磁悬液时，应加入适当的防锈剂和表面活性剂，必要时添加消泡剂。油基载体的运动粘度在38℃时小于或等于3.0mm/s，使用温度下小于或等于5.0mm/s，闪点不低于94℃，且无荧光和无异味。 3.4.3 磁悬液
磁悬液浓度应根据磁粉种类、粒度、施加方法和被检工件表面状态等因素来确定。一般情况下，磁悬液根据厂家说明书配置，浓度范围应符合表1的规定。测定前应对磁悬液进行充分的搅拌。
表1 磁悬液浓度
2
2
2
磁粉类型 非荧光磁粉 荧光磁粉 标准试片
配制浓度（g/L） 10～25 ～ 沉淀浓度（含固体量：mL/100mL） ～ ～ 3.5.1 标准试片主要用于检验磁粉检测设备、磁粉和磁悬液的综合性能，了解被检工件表面有效磁场强度和方向、有效检测区以及磁化方法是否正确。标准试片有A1型、C型、D型和M1型。其规格、尺寸和图形见表2。A1型、C型和D型标准试片应符合JB/T 6065的规定。
3.5.2 磁粉检测时一般应选用A1-30/100型标准试片。当检测焊缝坡口等狭小部位，由于尺寸关系，A1型标准试片使用不便时，一般可选用C-15/50型标准试片。用户需要时可用D型标准试片，为了更准确地推断出被检工件表面的磁化状态，当用户需要或技术文件有规定时，可选用M1型标准试片。
表2 标准试片的类型、规格和图形
规格：缺陷槽深/试片厚度，µｍ A1-7/50 A1-15/50 A1 型 A1-30/100 A1-60/100 C 型 D C-15/50
图形和尺寸，mm A1-30/50 A1-15/100 C-8/50 D-7/50 型 D-15/50 φ12mM1 型 m 7/50 φ9mm 15/50 φ6mm 注：C型标准试片可剪成5个小试片分别使用。 3.5.3 标准试片使用方法
30/50 a）标准试片适用于连续磁化法，使用时，应将试片无人工缺陷的面朝外。为使试片与被检
面接触良好，可用透明胶带将其平整粘贴在被检面上，并注意胶带不能覆盖试片上的人工缺陷。
b）标准试片表面有锈蚀、褶折或磁特性发生改变时不得继续使用。 磁化电流类型及其选用 3.6.1 电流类型
磁粉检测常用的电流类型有：交流、整流电流(全波整流、半波整流)和直流。 3.6.2 电流值
磁化规范要求的交流磁化电流值为有效值，整流电流值为平均值。磁粉检测用的磁化电流的波形、电流表指示及换算关系参见标准附录A。 磁化方向
磁化方向包括纵向磁化、周向磁化和复合磁化。本公司常用磁化方法为磁轭法纵向磁化和交叉磁轭法复合磁化。 3.7.1 焊缝的典型磁化方法
磁轭法、交叉磁轭法的典型磁化方法见下表：
表3磁轭法、交叉磁轭法的典型磁化方法
磁轭法的典型磁化方法 交叉磁轭法的典型磁化方法 L≥75mm b≤L/2 β≈90° L≥75 mm b≤L/2 L1≥75 mm b1≤L1/2 b2≤L2－50 垂直焊缝检测 L2≥75 mm L1≥75 mm L2＞75 mm b1≤L1/2 b2≤L2－50 L1≥75 mm L2≥75 mm b1≤L1/2 水平焊缝检测 b2≤L2－50 注：1、检测球罐环向焊缝时，磁悬液应喷洒在行走方向的前上方。 2、检测球罐纵向焊缝时，磁悬液应喷洒在行走方向。 3.7.2 交叉磁轭法复合磁化
使用交叉磁轭装置时，四个磁极端面与检测面之间应尽量贴合，最大间隙不应超过1.5mm。连续拖动检测时，检测速度应尽量均匀，一般不应大于4m/min。
磁化规范 3.8.1 磁场强度
用标准试片来确定磁场强度是否合适。 3.8.2 磁轭法
3.8.2.1 磁轭的磁极间距应控制在75mm～200mm之间，检测的有效区域为两极连线两侧各50mm的范围内，磁化区域每次应有不少于15mm的重叠。
3.8.2.2 采用磁轭法磁化工件时，其磁化电流应根据标准试片实测结果来选择；如果采用固定式磁轭磁化工件时，应根据标准试片实测结果来校验灵敏度是否满足要求。 3.8.3 交叉磁轭法
将标准试片按3.5.3规定方法贴于工件表面，交叉磁轭以连续拖动的方式测试试片的显示结果，以校验灵敏度是否满足要求。 质量控制
磁粉检测用设备、仪表及材料应定期校验。 3.9.1 综合性能试验
每天检测工作开始前，用标准试片检验磁粉检测设备及磁粉和磁悬液的综合性能（系统灵敏度）。
3.9.2 磁悬液浓度测定
对于新配制的磁悬液，其浓度应符合的要求。 3.9.3 磁悬液润湿性能检验
检测前，应进行磁悬液润湿性能检验。将磁悬液施加在被检工件表面上，如果磁悬液的液膜是均匀连续的，则磁悬液的润湿性能合格；如果液膜被断开，则磁悬液中润湿性能不合格。 3.9.4 电流表精度校验
磁粉检测设备的电流表，至少半年校验一次。当设备进行重要电气修理、周期大修或损坏时，
应进行校验。
3.9.5 电磁轭提升力校验
电磁轭的提升力至少半年校验一次。在磁轭损伤修复后应重新校验。 3.9.6 辅助仪表校验
磁粉检测用的辅助仪表，如黑光辐照计、照度计、磁场强度计等，至少每年校验一次。 3.9.7 其他
设备内部短路检查、电流载荷校验、通电时间校验等原则上每年进行一次测定。 安全防护
3.10.1 使用水磁悬液检测锅炉、压力容器及压力管道时，应防止绝缘不良或电器短路。
3.10.2 使用荧光磁粉检测时，黑光灯的滤光板不得有裂纹，应避免黑光灯直接照射人的眼睛。
3.10.3 对于盛装某些特殊介质的容器内部检测时，应考虑介质与磁悬液是否会发生化学反应。
被检工件表面的准备 3.11.1 工件表面
被检工件表面不得有油脂、铁锈、氧化皮或其它粘附磁粉的物质。表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性和完整性，否则应做适当的修理。如打磨，则打磨后被检工件的表面粗糙度
Ra≤25μm。如果被检工件表面残留有涂层，当涂层厚度均匀且不超过0.05mm，不影响检测结果
时，经合同各方同意，可以带涂层进行磁粉检测。 3.11.2 封堵
若工件有盲孔和内腔，宜加以封堵。 3.11.3 反差增强剂
为增强对比度，可以使用反差增强剂。
检测时机
焊接接头的磁粉检测应安排在焊接工序完成之后进行。对于有延迟裂纹倾向的材料，磁粉检测应根据要求至少在焊接完成24h后进行。除另有要求，对于锻件的磁粉检测应安排在最终热处理之后进行。
4 检测方法
本公司通常采用湿法、连续法进行检测。 湿法
4.1.1 采用湿法时，应确认整个检测面被磁悬液湿润后，再施加磁悬液。
4.2.2 磁悬液的施加可采用喷、浇、浸等方法，不宜采用刷涂法。无论采用哪种方法，均不应使检测面上磁悬液的流速过快。 连续法
采用连续法时，被检工件的磁化、施加磁粉的工艺以及观察磁痕显示都应在磁化通电时间内完成，通电时间为1s～3s，停施磁悬液至少1s后方可停止磁化。为保证磁化效果应至少反复磁化两次。
5 磁痕显示的分类和记录
磁痕的分类
5.1.1 磁痕显示分为相关显示、非相关显示和伪显示。
5.1.2 长度与宽度之比大于3的磁痕，按条状磁痕处理，长度与宽度之比不大于3的磁痕，按圆形磁痕处理。
5.1.3 长度小于0.5mm的磁痕不计。
5.1.4 两条或两条以上磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
5.1.5 缺陷磁痕长轴方向与工件（轴类或管类）轴线或母线的夹角大于或等于30时，按横向缺陷处理，其他按纵向缺陷处理。 缺陷磁痕的观察
5.2.1 磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
5.2.2 非荧光磁粉检测时，磁痕的评定应在可见光下进行，通常工件被检表面可见光照度应大
∘
于等于1000lx；当现场采用便携式设备检测，由于条件所限无法满足时，可见光照度可以适当降低，但不得低于500lx。
荧光磁粉检测时，所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm，黑光波长应在320nm～400nm的范围内，磁痕显示的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。
检测人员进入暗区，至少经过3min的黑暗适应后，才能进行荧光磁粉检测。观察荧光磁粉检测显示时，检测人员不准戴对检测有影响的眼镜。
5.2.3 除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成的之外，其他磁痕显示均应作为缺陷处理。当辨认细小磁痕时，应用2倍～10倍放大镜进行观察。 磁痕显示记录
磁痕的显示记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时用草图标示。
2
6 复验
当出现下列情况之一时，需要复验：
a）检测结束时，用标准试片或标准试块验证检测灵敏度不符合要求时； b）发现检测过程中操作方法有误或技术条件改变时； c）合同各方有争议或认为有必要时。
7 退磁
退磁一般要求
规定检测后加热至700℃以上进行热处理的工件，一般可不进行退磁。在下列情况下工件应进行退磁：
a） 当检测需要多次磁化时，如认定上一次磁化将会给下一次磁化带来不良影响； b) 如认为工件的剩磁会对以后的机械加工产生不良影响； c） 如认为工件的剩磁会对测试或计量装置产生不良影响； d） 如认为工件的剩磁会对焊接产生不良影响； e） 其他必要的场合。 退磁方法
使用交流电磁轭进行局部退磁或采用其他有效方法退磁。 剩磁测定
工件的退磁效果一般可用剩磁检查仪或磁场强度计测定。剩磁应不大于（240A/m），或按产品技术条件规定。
8 在用承压设备的磁粉检测
对在用承压设备进行磁粉检测时，如制造时采用高强度钢以及对裂纹（包括冷裂纹、热裂纹、再热裂纹）敏感的材料；或是长期工作在腐蚀介质环境下，有可能发生应力腐蚀裂纹的场合，宜采用荧光磁粉检测方法进行检测。检测现场环境应符合5.2.2的要求。
9 磁粉检测质量分级
下列缺陷不允许存在
a) 不允许存在任何裂纹和白点；
b) 紧固件和轴类零件不允许任何横向缺陷显示。 焊接接头的磁粉检测质量分级
焊接接头的磁粉检测质量分级见表4。
表4 材料和焊接接头的磁粉检测质量等级
等级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ 线性缺陷磁痕 不允许 不允许 圆形缺陷磁痕（评定框尺寸为35mm×100mm） d≤，且在评定框内不大于1个 d≤，且在评定框内不大于2个 d≤，且在评定框内不大于4个 大于Ⅲ级 l ≤ 注：l表示线性缺陷磁痕长度，mm；d表示圆形缺陷磁痕长径，mm。 受压加工部件和材料的磁粉检测质量分级
受压加工部件和材料的磁粉检测质量等级见表5。
表5 受压加工部件和材料的磁粉检测质量等级
等级 线性缺陷磁痕 圆形缺陷磁痕 （评定框尺寸为2500mm其中一条矩形边长最大为150mm） 2 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ 不允许 d≤，且在评定框内不大于1个 d≤，且在评定框内不大于2个 d≤，且在评定框内不大于4个 大于Ⅲ级 l≤， l≤， 注：l表示线性缺陷磁痕长度，mm； d表示圆形缺陷磁痕长径，mm。 综合评级
在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行综合评级。对各类缺陷分别评定级别，取质量级别最低的级别作为综合评级的级别；当各类缺陷的级别相同时，则降低一级作为综合评级的级别。
10 磁粉检测记录和报告
磁粉检测记录和报告应符合标准和本公司相关规定。
八、渗透检测工艺规程（JB/T4730-2005）
1 适用范围
本工艺规程规定了承压设备的液体渗透检测方法及质量分级要求。
本工艺规程适用于非多孔性金属材料或非金属材料制承压设备在制造、安装及使用中产生的表面
开口缺陷的检测。 2 引用标准
JB/T4730-2005《承压设备无损检测》 3 一般要求 检测人员
3.1.1 检测人员必须经过技术培训，按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》取得与其
工作相适应的资格证书。
3.1.2 检测人员必须每年检查一次视力，未经矫正或矫正视力应不低于，且不得有色盲、色弱。
视力测试方法应符合GB11533-1989的规定。 渗透检测剂
渗透检测剂包括渗透剂、乳化剂、清洗剂和显像剂。 3.2.1 渗透剂的质量控制应满足下列要求：
3.2.1.1 当采用散装渗透剂时，应在每一批新的合格散装渗透剂中应取出500mL贮藏在玻璃容
器中保存起来，作为校验基准。
3.2.1.2 散装渗透剂应装在密封容器中，放在温度为10℃～50℃的暗处保存，并应避免阳光照
射。各种渗透剂的相对密度应根据制造厂说明书的规定采用相对密度计进行校验，并应保持相对密度不变。
3.2.1.3 散装渗透剂的浓度应根据制造厂说明书规定进行校验。校验方法是将10mL待校验的渗
透剂和基准渗透剂分别注入到盛有90mL无色煤油或其他惰性溶剂的量筒中，搅拌均匀。然后将两种试剂分别放在比色计纳式试管中进行颜色浓度的比较，如果被校验的渗透剂与基准渗透剂的颜色浓度差超过%时，就应作为不合格。
3.2.1.4 对正在使用的渗透剂进行外观检验，如发现有明显的混浊或沉淀物、变色或难以清洗，
则应予以报废。
3.2.1.5 各种渗透剂用标准试块与基准渗透剂进行性能对比试验，当被检渗透剂显示缺陷的能
力低于基准渗透剂时，应予报废。
3.2.1.6 荧光渗透剂的荧光效率不得低于75%。试验方法按GB/T 5097— 附录A中的有关规定
执行。
3.2.2 显像剂的质量控制应满足下列要求：
通常情况下，应使用溶剂悬浮快干式显像剂。当显像剂出现变色或难以形成薄而均匀的显像层时，则应予以报废。
3.2.3 渗透检测剂必须标明生产日期和有效期,要附带产品合格证和使用说明书。 3.2.4 对于喷罐式渗透检测剂，其喷罐表面不得有锈蚀,喷罐不得出现泄漏。
3.2.5 渗透检测剂必须具有良好的检测性能，对工件无腐蚀，对人体基本无毒害作用。 3.2.6 对于镍基合金材料、奥氏体钢和钛及钛合金材料，应注意检测剂的适用范围，检测剂中
的氯、氟、硫含量的质量分数应符合标准规定。 设备、仪器和试块
3.3.1 暗室或检测现场
暗室或检测现场应有足够的空间，能满足检测的要求，检测现场应保持清洁，荧光检测时暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。
3.3.2 黑光灯
黑光灯的紫外线波长应在320nm～400nm的范围内，峰值波长为365nm，距黑光灯滤光片38cm的工件表面的辐照度大于等于1000μW/cm，自显像时距黑光灯滤光片15cm的工件表面的辐照度大于等于3000μW/cm。黑光灯的电源电压波动大于10% 时应安装电源稳压器。 3.3.3 其他辅助器材
其他辅助器材有黑光辐照度计、荧光亮度计、白光照度计，应为合格产品，性能应符合标准规定。
3.3.6 标准试块
常用标准试块为铝合金试块(A型对比试块)和镀铬试块(B型试块)。
2
2
3.3.6.1铝合金试块主要用于以下两种情况：
a) 在正常使用情况下，检验渗透检测剂能否满足要求，以及比较两种渗透检测剂性能的优劣； b) 对用于非标准温度下的渗透检测方法作出鉴定。
3.3.6.2镀铬试块主要用于检验渗透检测剂系统灵敏度及操作工艺正确性。 3.3.6.3着色渗透检测用的标准试块不能用于荧光渗透检测，反之亦然。 3.3.6.4发现标准试块有阻塞或灵敏度有所下降时，必须及时修复或更换。
3.3.6.5标准试块使用后要用丙酮进行彻底清洗。清洗后，再将标准试块放入装有丙酮和无水酒
精的混合液体（体积混合比为1∶1）的密闭容器中保存，或用其他有效方法保存。 渗透检测方法分类和选用 3.4.1 渗透检测方法分类
根据渗透剂和显像剂种类不同，渗透检测方法按表1进行分类。
表1 渗透检测方法分类
渗透剂 渗透剂的去除 显像剂 分类 名 称 方法 名 称 分类 荧光渗透检测 着色渗透检测 a A Ⅰ B Ⅱ C Ⅲ D 亲水型后乳化渗透检测 e 自显像 溶剂去除型渗透检测 d 溶剂悬浮显像剂 亲油型后乳化渗透检测 c 水悬浮显像剂 水洗型渗透检测 b 水溶解显像剂 干粉显像剂 注：渗透检测方法代号示例: ⅡC-d 为溶剂去除型着色渗透检测(溶剂悬浮显像剂)。 3.4.2灵敏度等级
灵敏度等级分类如下：1级——低灵敏度；2级——中灵敏度；3级——高灵敏度。 不同灵敏度等级在镀铬试块上可显示的裂纹区位数应按表2的规定。
表2 灵敏度等级
灵敏度等级 1级 2级 3级 3.4.3 渗透检测方法选用
3.4.3.1 渗透检测方法的选用，首先应满足检测缺陷类型和灵敏度的要求。在此基础上，可根据被检工件表面粗糙度、检测批量大小和检测现场的水源、电源等条件来决定。
3.4.3.2 对于表面光洁且检测灵敏度要求高的工件，宜采用后乳化型着色法或后乳化型荧光法，也可采用溶剂去除型荧光法。
3.4.3.3 对于表面粗糙且检测灵敏度要求低的工件宜采用水洗型着色法或水洗型荧光法。 3.4.3.4 对现场无水源、电源的检测宜采用溶剂去除型着色法。 3.4.3.5 对于批量大的工件检测，宜采用水洗型着色法或水洗型荧光法。 3.4.3.6 对于大工件的局部检测，宜采用溶剂去除型着色法或溶剂去除型荧光法。 3.4.3.7 荧光法比着色法有较高的检测灵敏度。 检测时机
3.5.1 除非另有规定，焊缝的渗透检测应在焊接完工后或焊接工序完成后进行。对有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成24h后进行焊缝的渗透检测。 3.5.2 紧固件和锻件的渗透检测一般应安排在最终热处理之后进行。 4 渗透检测基本程序
渗透检测操作的基本步骤如下： a) 预清洗； b) 施加渗透剂； c) 去除多余的渗透剂； d) 干燥；
可显示的裂纹区位数 1～2 2～3 3 e) 施加显像剂； f) 观察及评定。
荧光和着色渗透检测工艺程序见图1.
图1
5 渗透检测操作方法
表面准备
5.1.1 工件被检表面不得有影响渗透检测的铁锈、氧化皮、焊接飞溅、铁屑、毛刺以及各种防护层。
5.1.2 被检工件机加工表面粗糙度Ra≤μm；被检工件非机加工表面的粗糙度可适当放宽，但不得影响检验结果。
5.1.3 局部检测时，准备工作范围应从检测部位四周向外扩展25mm。 预清洗
检测部位的表面状况在很大程度上影响着渗透检测的检测质量。因此在进行表面清理之后，应进行预清洗，以去除检测表面的污垢。清洗时，可采用溶剂、洗涤剂等进行。清洗范围应满足5.1.3的要求。铝、镁、钛合金和奥氏体钢制零件经机械加工的表面，如确有需要，可先进行酸洗或碱洗，然后再进行渗透检测。清洗后，检测面上遗留的溶剂和水分等必须干燥，且应保证在施加渗透剂前不被污染。 施加渗透剂
5.3.1 渗透剂施加方法
施加方法应根据零件大小、形状、数量和检测部位来选择。所选方法应保证被检部位完全被渗透剂覆盖，并在整个渗透时间内保持润湿状态。具体施加方法如下：
a) 喷涂：可用静电喷涂装置、喷罐及低压泵等进行。 b) 刷涂：可用刷子、棉纱或布等进行。 c) 浇涂：将渗透剂直接浇在工件被检面上。 d) 浸涂：把整个工件浸泡在渗透剂中。 5.3.2 渗透时间及温度
在10℃～50℃的温度条件下，渗透剂持续时间一般不应少于10min。当温度条件不能满足上述条件时，应做非标准温度下的对比试验对操作方法进行鉴定。 乳化处理
5.4.1 在进行乳化处理前，对被检工件表面所附着的残余渗透剂应尽可能去除。使用亲水型乳
化剂时，先用水喷法直接排除大部分多余的渗透剂，再施加乳化剂，待被检工件表面多余的
渗透剂充分乳化，然后再用水清洗。使用亲油型乳化剂时,乳化剂不能在工件上搅动, 乳化结束后，应立即浸入水中或用水喷洗方法停止乳化，再用水喷洗。
5.4.2 乳化剂可采用浸渍、浇涂和喷洒(亲水型)等方法施加于工件被检表面，不允许采用刷涂
法。
5.4.3 对过渡的背景可通过补充乳化的办法予以去除，经过补充乳化后仍未达到一个满意的背
景时，应将工件按工艺要求重新处理。出现明显的过清洗时要求将工件清洗并重新处理。 5.4.4 乳化时间取决于乳化剂和渗透剂的性能及被检工件表面粗糙度。一般应按生产厂的使用
说明书和试验选取。 去除多余的渗透剂
5.5.1 在清洗工件被检表面以去除多余的渗透剂时，应注意防止过度去除而使检测质量下降，
同时也应注意防止去除不足而造成对缺陷显示识别困难。用荧光渗透剂时，可在紫外灯照射下边观察边去除。
5.5.2 水洗型和后乳化型渗透剂（乳化后）均可用水去除。冲洗时，水射束与被检面的夹角以
30°为宜,水温为10℃～40℃,如无特殊规定，冲洗装置喷嘴处的水压应不超过。在无冲洗装置时，可采用干净不脱毛的抹布蘸水依次擦洗。
5.5.3 溶剂去除型渗透剂用清洗剂去除。除特别难清洗的地方外，一般应先用干燥、洁净不脱
毛的布依次擦拭，直至大部分多余渗透剂被去除后，再用蘸有清洗剂的干净不脱毛布或纸进行擦拭，直至将被检面上多余的渗透剂全部擦净。但应注意，不得往复擦拭，不得用清洗剂直接在被检面上冲洗。 干燥处理
5.6.1 施加溶剂悬浮显像剂时，检测面应在施加前进行干燥。 5.6.2 采用自显像应在水清洗后进行干燥。
5.6.3 一般可用热风进行干燥或进行自然干燥。干燥时，被检面的温度不得大于50℃。当采用
溶剂去除多余渗透剂时，应在室温下自然干燥。 5.6.4 干燥时间通常为5min～10min。 施加显像剂
5.7.1 使用溶剂悬浮显像剂时，在被检面经干燥处理后，将显像剂喷洒到被检面上，然后进行
自然干燥或用暖风(30℃～50℃)吹干。
5.7.2 采用自显像时，停留时间最短10min，最长2h。
5.7.3 悬浮式显像剂在使用前应充分搅拌均匀。显像剂施加应薄而均匀，不可在同一地点反复
多次施加。
5.7.4 喷涂显像剂时，喷嘴离被检面距离为300mm～400mm，喷涂方向与被检面夹角为30°～
40°。
5.7.5 显像时间一般不应少于7min。 观察
5.8.1 对于溶剂悬浮显像剂应遵照说明书的要求或试验结果进行操作。一般在7min～60min内
进行。
5.8.2 着色渗透检测时，缺陷显示的评定应在白光下进行，通常工件被检面处白光照度应大于
等于1000lx；当现场采用便携式设备检测，由于条件所限无法满足时，可见光照度可以适当降低，但不得低于500lx。
5.8.3 荧光渗透检测时，显示的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处白光照度应不大于20lx。
检测人员进入暗区，至少经过3min的黑暗适应后，才能进行荧光渗透检测。检测人员不能戴对检测有影响的眼镜。
5.8.4 辨认细小显示时可用5倍～10倍放大镜进行观察。必要时应重新进行处理、检测。 复验
5.9.1 当出现下列情况之一时，需进行复验：
a) 检测结束时，用标准试块验证检测灵敏度不符合要求； b) 发现检测过程中操作方法有误或技术条件改变时； c) 合同各方有争议或认为有必要时。
5.9.2 当决定进行复验时，应对被检面进行彻底清洗。 后清洗
工件检测完毕应进行后清洗，以去除对以后使用或对材料有害的残留物。 显示记录
缺陷的显示记录可采用照相、录相
和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
质量控制
5.12.1 使用新的渗透检测剂、改变或替换渗透检测剂类型或操作规程时，实施检测前应用镀铬试块检验渗透检测剂系统灵敏度及操作工艺正确性。
5.12.2 长期的固定工作情况下，每周应用镀铬试块检验渗透检测剂系统灵敏度及操作工艺正确
性。并应定期测定检测环境白光照度和工件表面黑光辐照度、荧光亮度。 5.12.3 在检测前、检测过程或检测结束认为必要时应随时检验。
5.12.4 黑光灯、黑光辐照度计、荧光亮度计和照度计等仪器应是校验合格的。
6 渗透显示的分类和记录
显示分为相关显示、非相关显示和虚假显示。非相关显示和虚假显示不必记录和评定。 小于0.5mm的显示不计，除确认显示是由外界因素或操作不当造成的之外，其他任何显示均应
作为缺陷处理。
缺陷长轴方向与工件（轴类或管类）轴线或母线的夹角大于或等于30°时，按横向缺陷处理，
其他按纵向缺陷处理。
长度与宽度之比大于3的缺陷显示，按线性缺陷处理；长度与宽度之比小于或等于3的缺陷显
示，按圆形缺陷处理。
两条或两条以上线性显示在同一条直线上且间距不大于2mm时，按一条显示处理，其长度为两
条显示之和加间距。
7 质量分级
焊接接头和坡口的质量分级按表3进行。
表3 焊接接头和坡口的质量分级 mm
等级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ 线性缺陷 不允许 不允许 圆形缺陷（评定框尺寸35×100） d≤，且在评定框内少于或等于1个 d≤，且在评定框内少于或等于4个 d≤8，且在评定框内少于或等于6个 L≤4，不允许裂纹 Ⅳ 大于Ⅲ级 注：d为圆形缺陷在任何方向上的最大尺寸。 其他部件的质量分级评定见表4。
表4 其他部件的质量分级 mm
圆形缺陷（评定框尺寸2500mm其中一条矩形边的等级 线性缺陷 最大长度为150mm） Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ 注：d 为圆形缺陷在任何方向上的最大尺寸。 不允许 2d≤，且在评定框内少于或等于1个 d≤，且在评定框内少于或等于4个 d≤8，且在评定框内少于或等于6个 大于Ⅲ级 L≤4，不允许裂纹和横向缺陷 L≤8，不允许裂纹 8 在用锅炉、压力容器及压力管道的渗透检测
对在用锅炉、压力容器及压力管道进行渗透检测时，如制造时采用高强度钢以及对裂纹（包括冷裂纹、热裂纹、再热裂纹）敏感的材料；或是长期工作在腐蚀介质环境下，有可能发生应力腐蚀裂纹的场合，宜采用荧光渗透检测方法进行检测。检测现场环境应符合5.8.3的要求。
9 检测记录和报告
检测记录和报告应符合标准和本公司相关规定。
十、厚度测试工作规程
1 适用范围
本规程适用于锅炉、压力容器、压力管道以及石油天然气长输管道中的厚度测试工作。
2 引用标准
1) GB/T11344-2008接触式超声波脉冲回波法测厚
3 试验方法
本规程采用超声波厚度测试方法。
4 设备的选择和相应要求
4.1 4.2
根据现场工作条件，选用携带方便的超声波测厚仪，操作方便。
测厚仪应是经过本公司或计量部门按照规定的检定程序进行检定的合格的，且
在有效期内。 4.3 4.4
选用随机附带的标准试块，试块要保存恰当，防止腐蚀、生锈、玷污。 标准试块应随测厚仪一起计量，当检定的试块失效时，应对前次计量至此次计
量时间内的所有试验项目进行重新复核。 4.5
表面藕合剂一般选用机油。
5 测试前的准备
5.1
初步确定试验条件，接受任务后，根据要求安排试验人员，并由试验人员对现
场情况作初步了解。 5.2
检验时机的选取
一般情况下应在接受任务后及时安排人员进行厚度测试。 5.3
技术准备
5.3.1 试验人员根据检测委托单提供的试验工件参数，根据相应的标准要求，查出规
定值范围内的厚度值，并做好记录。
5.3.2 用标准试块对测厚仪进行校核、调试，直至准确。
5.4
表面准备
工件待测部位表面涂层、氧化皮等异物应清除干净，光洁度不能影响测厚数据的准确性，一般以不超过μm为宜。
6 测试
6.1
试验位置
根据相关规程标准，选取有代表性的试验部位。一般情况下，直管应选取3处圆周位置（均布）上的4点（均布）进行厚度测试，弯管应选取5处圆周位置（其中弯头3处，直管部分2处）上的4点（均布）进行厚度测试。 6.2
试验记录
6.2.1 根据要求记录下试验数据。原始数据不能丢弃，以备复核之用。 6.2.2 试验时，还应画出具体的测厚部位示意图。 7 评定标准
根据合同规定的相应标准进行评定，当合同中无要求时，以制造厂的厂标为准。
8 数据超标时的处理
当发现有测试数据超出标准规定的范围时，应在第一次试验时就地进行复试，如复试的厚度值仍超过标准值，应用标准试块对测厚仪再次进行校核，若测厚仪准确，选用另一台经过计量的符合要求的测厚仪来进行复核，当仍就不符合要求时，应作为不符合项及时告之委托方。
9 清理
测试结束后，用适当的方法将残余的耦合剂清除干净。
10 记录及报告
10．1 记录和报告应按“记录”及“报告”的格式填写。
10．2 分析报告由从事此项工作的人员填写，并由专职工程师或项目负责人审核。
11 其他注意事项
11.1 熟悉测厚仪的使用说明，掌握设备的性能、技术条件及操作程序。 11.2 试验前应检查测厚仪，必须做到各按钮操作灵敏，探头完好。
11.3 试验前运用标准试块对仪器进行校核，所得数值应在规定的误差范围之内。
11.4 试验应严格按规定的操作程序进行，试验完毕后对设备应进行必要的清洁工作。 11.5 若设备发生故障，试验人员应及时向项目点负责人汇报情况，待故障排除后，方可继续使用，若故障不能排除，不能继续进行工作，必须换用好的仪器后再继续工作。
11.6 设备管理员应定期对测厚仪进行检查、检定，并做好设备的保养工作，使测厚仪处于良好状态。
十一、暗室操作规程
1 总则
本规程规定了暗室工作的目的、人员职责、暗室条件及注意事项，适用于本公司暗室工作。 2 目的
制作符合检测标准规定的射线照像底片。 3 实施细则 暗室规定
1）暗室进口处应用安全锁装置;以防无关人员无意闯入暗室。 2）暗室地面和工作台应保持干燥和清洁。
3）暗室通风和换气设备应正常运行，室内温度应保持在20℃±5℃、湿度应保持在50％～60％。
4）暗室内安全红灯应摆放在合理位置，不得影响胶片处理质量。
. 装片及拆片规定
1）所用铅箔增感屏必须逐张检查，不得使用有划痕及不清洁的增感屏。 2）检查并确定使用的暗袋无漏光且平坦清洁。
3）拆片、装片必须清洁，并戴细絨手套。胶片不得折叠弯曲，并离红灯不得太近，应远离药液等杂物。
4）拆片、装片时严禁由增感屏中抽出或插入胶片，应将增感屏分开后放入胶片或取出胶片，以防止胶片产生伪缺陷。
5）所用胶片应按批量随意抽取三张未曝光胶片，进行正常暗室处理以检查底片灰雾度及有无其它影像，确定胶片是否合格。
6）胶片包装盒第一次拆封后，应在包装盒上记录开封时间，若胶片开封后一个月仍未用完，剩余胶片应强制报废。
显影液、定影液规定：
1）按规定配方配置好显、定影液，详见使用说明书。
2）暗室药液（显影液、定影液），使用期间应经常测定药液性能，发现老化要及时补充或更换，以维持药液性能恒定。 3）管理好失效的显影液、定影液。
胶片处理程序：
3.4.1手工槽洗：
1.按胶片厂方提供的配方，在使用前24小时配制2500毫升，显影和定影药液放入各自槽内备用。
2.配制2500毫升含量为3％的醋酸水溶液作为停影剂，放入显、定影之间的槽中。 3.在安全红灯下从暗袋中取出胶片，严禁由增感屏中直接抽出，避免胶片与增感屏磨擦，放入洗片架。
4.依次放入显影液槽内，每放一张要上下移动数次，保证胶片充分、均匀与药液润湿溢除气泡，然后约每20秒钟将洗片架上下移动一次。槽内放入胶片不得超过8张，过多容易划片。
5.显影时间到5分钟时，可在安全灯下依次（以放入槽内顺序）观察一下，如黑度达到要求控去显影液后放入停影液槽内，轻微上下移动30秒钟后放入定影槽内，如黑度未达到要求可继续显影，但不得超过8分钟。
6.胶片放入定影液中最初一分钟内要上下移动数次，而后15分钟移至清槽内在流水冲洗30分钟。
7.水洗后胶片再用％洗净剂溶液冲洗一下然后烘干(温度50℃)，如时间允许最好风干。 8.干底片分别装入纸袋并做好记录，交评片人员验收。 3.4.2 使用洗片机：
1.检查放药开关（显影、定影、水）是否关闭。 2.检查补充药液容器是否完好无损。
3.确认放药开关关闭后，注入药液（显影、定影、水）。
4.接通电源，打开洗片机开关，检查机器运转是否正常，进行预热。
5.指示灯进入正常状态时，进行试片洗片，检查输入、输出胶片有无异常，经调试无误后方可使用。
6.胶片输入时必须注意与导向边一端成直角送入，且同时送入的几张胶片应保持一定距离，防止相互叠加，并注意不要让暗盒等物沾污胶片，尤其要防止异物进入洗片机，防止滑伤滾筒。每次洗片时胶片不得叠加，连续洗片操作时应得到提示后，方可进行二次洗片。 7.洗片完毕后，将显影、定影、水放入专用容器中，妥善保管。 8.显影、定影、水应及时更换，保证底片质量。 9.底片分别装入纸袋并做好记录，交评片人员验收。
洗片机日常维护
1.洗片机应定期清洗保养，清洗时，应用专用清洗液清洗。
2.洗片机应根据季节变化，请专业人员定期对洗片机进行参数设定，测试洗片机性能。 3.若洗片机流动使用，应将机器固定在车体固定位置，尽量减少对洗片机的震动。
4.若洗片机安装在流动工程车上，冬季应注意洗片机的保暖工作，防止洗片机药液管路冻裂。
4 注意事项。
暗室内的电源不得有可能触及的裸露部分，电源控制应用拉线开关。工作台前应铺设绝缘垫。 不得在暗室内存放药品（显影液、定影液除外）及配制试剂。 暗室内的通道应平坦通畅，不得堆放杂物。 严禁非工作人员进入暗室。
十二、安全防护规程
1 总则
本规程规定了安全防护的目的、措施，适用于本公司的安全防护工作。 2 目的
确保不发生人身和设备事故，尽最大可能减低安全事故发生的几率。 3 安全措施
检测员必须经确认检测现场安全条件符合要求后才能开始检验，如达不到要求，检测员有权拒绝检验。
3.2 设备内照明用灯电压不应超过12V。
进行在用容器检测时，对盛装过有毒、易燃易爆以及对人体可能产生危害介质的容器，在检测前必须经过严格的置换清洗。只要进入容器内部检验必须先取样分析，在合格的情况下方能进行。在检验过程中还须定时取样分析。 受检设备必须可靠地与系统断开，同时必须切断电气联系。
射线检测人员应加强自身和探伤地周围可能受到射线有害剂量影响的其他人员的安全防护工作，在安全得不到保障时，检测人员有权拒绝工作。
检测员进行检测时，必须穿戴好工作服、工作鞋、劳保手套，必要时戴口罩、防护镜等，做好安全防护。
射线对人身具有较大的危害作用，对环境也会造成一定程度的污染。所以，从事射线操作的检测人员，必须遵守本规程和公司关于安全的其他规定，不断学习射线防护卫生知识，以科学的态度、合理的手段进行操作。既要保证工作任务的完成，又要保证个人所接受的射线剂量在国家规定的范围以内。
公司要经常加强对检测人员的安全教育。作为检测人员应充分利用现有的防护条件，最大限度的采用时间防护、距离防护、屏蔽防护。检测开始前，带好剂量监测仪器，穿好防护用品，经常对剂量仪进行鉴定检验。
射线源处于工作状态，工作人员严禁离开现场，必须密切注意工作场所动态。防止射线源高空坠落，发现射线探伤机丢失、被盗、故障等异常，现场探伤人员应及时报告环保部门、公安部门及有关领导组织处理。
十三、X射线机安全操作规程
1、X射线机在搬动时，必须小心轻放，不得受剧烈震动。
2、X射线机操作前必须设置警戒区域，操作时要有人监护，一般一人操作一人监护。 3、X射线机必须要有可靠的接地线，使用的电压必须与规定值相符。
4、X射线机在第一次使用或间隔较长时间后使用时，X射线管必须按使用说明书进行训管，方可正常使用。
5、对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。X射线机更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线校验或重新制作。
6、开启电源开关后，先让X射线管提前预热二分钟，才能开启高压开关使X射线机正常工作。
7、当X射线机工作时间结束，控制箱内蜂鸣器发出预报声后，控制箱自动停止曝光。 8、X射线机工作时，X射线柜的窗口不得直射操作台及有人工作的地方，操作人员应在X射线柜的背面工作。
9、X射线探伤室必须具有良好的通风设备，应经常打扫，保持清洁，不得堆放其它杂物。
10、X射线机在工作时发生故障应立即切断电源停止操作。
十四、超声波探伤仪安全操作规程
1、仪器切勿在靠近锻打、翻砂、电、火焊场所或电磁场有严重干扰的场所进行使用。 2、仪器不许放置在潮湿的地方应用，仪器只允许放置在干燥牢固的台子上或牢固的脚手架上进行操作。
3、仪器必须有专人保管，从事该仪器工作的人员必须熟悉该仪器的性能及专业知识。非操作人员未经许可不准触动仪器的任何部位，以防意外事故发生。 4、仪器所有部件（如探头及本体）非经保管人员许可，不准随便拆装。
5、工作开始前，首先要检查一下电源电压是否与该仪器的电源电压相符。若不符合时禁止应用。
6、工作开始前，首先开启电源，使仪器预热1-2分钟，然后再调节其它按钮。 7、工作结束时，仪器上各个旋钮开关都要调回原位，并把仪器、探头及连接线上的油污擦净，然后才能放回原位。
8、工作时被探伤的部件最高温度不得超过50℃，以防降低探头的灵敏度。 9、仪器在应用时一般连续开启时间不允许超过4小时，在夏季或一般室温达35℃左右的环境工作时，连续工作时间不得超过2小时。 10、仪器搬运时要尽量防止振动，以防损坏仪器影响工作。
11、仪器应经常进行维修保养，使仪器处于正常状态，若发现仪器内部有灰尘或脏污时，应及时清理。
十五、磁粉探伤机安全操作规程
1、磁粉探伤机使用人员必须熟读“使用说明书”，掌握设备性能和使用方法。 2、磁粉探伤机使用前应先检查设备本身情况，如开关、按钮是否灵活，线缆连接是否牢固并接触良好，磁轭关节是否活动自如等。
3、使用前必须检查所需使用的电源电压是否符合设备规定的输入电压，以防超压损坏设备。
4、使用时，设备不允许放置在潮湿的地方应用，仪器只允许放置在干燥牢固的台子上或牢固的脚手架上进行操作。
5、检测过程中，应按规定通电磁化工件进行检测，单磁轭磁粉探伤机严禁长时间连续通电，防止过热烧坏磁轭。如发现设备温度过高时，应停止使用，待其冷却一段时间后，再继续工作。
6、工作结束后，应立即擦拭仪器、电源线、电缆线、磁头及其它器材，及时送还设备库。
7、设备必须有专人保管，从事该仪器工作的人员必须熟悉该仪器的性能及专业知识。 8、设备所有部件（如磁轭、操作箱）非经保管人员许可，不得随便拆装。 9、设备应经常进行维护保养，并按规定定期校验，使其处于随时可用状态。
十七、超声波测厚仪安全操作规程
1、使用仪器前，必须熟读仪器使用说明书。
2、探头电缆是一种特殊的高频电缆，使用时不能用力拉弯或扭转，插入或拔出要轻捷。
3、主机壳不能在粗糙的物体上磨擦。不能用苯或有渗透能力的油水剂清洗显示装置的表面。
4、仪器要注意防震、防潮。
5、使用完毕后要及时把油、灰等杂质擦干净。 6、仪器保存时，要取出盒内电池。
7、被测物体表面必须打磨光滑；并清除各种杂质，以便得到较正确的测量数据，并可保护探头。
8、在多灰的地方做试验，最好在仪器上套一个透明塑料口袋以保护仪器。
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