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一种热电离质谱仪测量铪同位素丰度的方法

来源:欧得旅游网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN201911066635.0 (22)申请日 2019.11.04

(71)申请人 中国核动力研究设计院

地址 610000 四川省成都市双流区长顺大道一段328号

(10)申请公布号 CN110596231A

(43)申请公布日 2019.12.20

(72)发明人 梁帮宏;苏冬萍;罗婷;李顺涛;张劲松;陈云明;李兵 (74)专利代理机构 成都行之专利代理事务所(普通合伙)

代理人 林菲菲

(51)Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

一种热电离质谱仪测量铪同位素丰度的方法

(57)摘要

本发明公开了一种热电离质谱仪测量铪同

位素丰度的方法,依次包括:第一步、发射剂配制:配制测量所需发射剂,发射剂为碳纳米管混合悬浊液;第二步、样品加载:将样品和发射剂加载在铼带上并烘干,以单带方式安装插件;第三步、样品测量:热电离质谱仪设置为正离子模式,待检测离子为Hf

法律状态

法律状态公告日

2019-12-20 2019-12-20 2020-01-14

公开 公开

法律状态信息

公开 公开

法律状态

实质审查的生效 实质审查的生效

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说明书

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